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通用型激光位移传感器HCS系列
激光位移传感器HC26系列可替代OPTEX奥泰斯CD33系列
微型数显的激光位移传感器HC16系列可替代OPTEX奥泰斯CD22系列
经济型激光位移传感器HC-Q系列可替代Panasonic松下HG-C系列
双张检测超声波传感器针对纸张、纸板箱、金属双层粘合检测HUA系列
高速高精度激光位移传感器LTP系列 可替代keyence基恩士LK-G系列
光谱共焦位移传感器/同轴光位移传感器LT-C系列 可替代基恩士CL-3000系列
激光测振传感器测量超声手术刀及换能器振动频率
光纤式激光多普勒测振仪
高精度便携式激光测振仪
带可见红色指引光的5Mhz高频激光测振传感器
手持式激光多普勒振动分析仪
6米大测量距离超声波测距传感器HU6000系列
4米大测量范围超声波测距传感器HU4000系列
2米测量距离超声波测距传感器HU2000系列
1米测量距离超声波测距传感器HU1000系列
500mm测量距离超声波测距传感器HU500系列
300mm测量距离超声波测距传感器HU300系列
不锈钢+PTFE外壳,耐腐蚀超声波测距传感器UCC系列
高精度短距离超声波测距传感器HU120/HU200系列
多种接口激光位移传感器HC-Z系列
4K响应频率的激光位移传感器HCM系列
带RS485通讯的经济型激光位移传感器HC6系列
1米量程1毫米精度IP69等级激光测距传感器FT系列
光谱共焦探头LTC400 测量范围10±0.2mm,线性精度0.12um
光谱共焦位移传感器LTC1200探头 测量范围20±0.6mm,线性误差0.3um
Φ8mm微型光谱共焦探头LTC3000 测量范围7±1.5mm,线性误差0.6um
光谱共焦位移探头LTC4000F 测量范围38±2mm,线性误差0.8um
光谱共焦位移探头LTC4000N 测量范围14.5±2mm,线性误差0.8um
光谱共焦位移探头LTC6000,测量范围40±3mm,线性误差1.2um
光谱共焦位移探头LTC7000 测量范围45±3.5mm,线性误差1.4um
10mm大量程光谱共焦位移探头LTC10000 测量范围50±5mm,线性误差2um
侧出光光谱共焦探头LT-CR1500 测量范围5.75±0.75mm,线性误差0.3um
侧出光光谱共焦探头LT-CR1500N 测量范围3±0.75mm,线性误差0.3um
显微激光测振仪
远距离超高精度同轴激光位移传感器MD-H系列 3米距离精度可达0.01mm
3D闪测传感器HPS-DBL60
3D线光谱共焦传感器HPS-LCX1000同轴光设计实现无盲区检测
小量程高精度3D线光谱共焦传感器HPS-LCF1000
中量程3D线光谱共焦传感器HPS-LCF2000
大量程3D线光谱共焦传感器HPS-LCF3000
3D视觉控制器
光谱干涉_白光干涉_膜厚测量_纳米膜厚测量 白光干涉测厚传感器LT-ITS系列
光谱共焦传感器探头LTC600,范围6.5±0.3mm,线性误差0.18um
1nm重复精度的白光干涉测厚仪
光谱共焦传感器探头LTC2600,范围15±1.3mm,线性误差0.3um
超大角度光谱共焦探头LTC2400 测量范围9±1.2mm,测量角度60°
大量程光谱共焦位移探头LTC16000 测量范围55±8mm,线性误差2um
大量程光谱共焦位移探头LTC20000 测量范围55±10mm,线性误差2um
长距离光谱共焦位移探头LTC50000,测量范围100±25mm,线性误差5um
纳米级分辨率超高精度激光干涉测距仪
超高速相机/摄像机SH6系列
高速高清相机/高速高清相机摄像机SH6-2、SH6-5系列
超高清摄像机SH6-21系列具备210Gbps的有效带宽
精灵系列高速摄像机SH2-2系列 体积小巧性能强悍
Mini系列高速摄像机SH3-1系列
单通道光谱共焦控制器LT-CCS
双通道光谱共焦控制器LT-CCD
四通道光谱共焦控制器LT-CCF
8/12/16通道高速光谱共焦控制器LT-CCH
光谱共焦探头LTC100 测量范围8±0.05mm,线性精度0.03um
光谱共焦探头LTC2000测量范围50±1mm,线性精度0.6um
光谱共焦探头LTC7000L,测量范围47±3.5,线性精度1.4um
长距离光谱共焦探头LTC7000S,测量范围70±3.5mm,线性精度1.4um
侧面出光的光谱共焦探头LTCR4000,量程2mm,线性精度1.2um
侧面出光大量程光谱共焦传感器LTCR5000,量程5mm,线性精度2um
投受光分离型高精度激光位移传感器LTPD08
投受光分离型高精度激光位移传感器LTPD15
投受光分离型高精度激光位移传感器LTPD50
0.5um超高精度的激光位移传感器LTP025
可替代基恩士的LK-H系列激光位移传感器LTP030
160Khz采样频率的高速激光位移传感器LTP080
实现全零件国产化的高精度激光位移传感器LTP070
带网口通讯可连接上位机软件的高精度激光位移传感器LTP150
200mm量程的高精度高速激光位移传感器LTP400
可抗强光适用于户外的大量程高精度激光位移传感器LTP450
1米大量程,测量精度可达0.5mm的激光三角位移传感器LTP1000
2米超大量程 高精度高速激光位移传感器LTP1500
2D/3D线激光轮廓仪HL-8020,Z轴(高度) 26.6±3.2mm X轴(宽度) 13mm
2D/3D线激光轮廓仪HL-8040,Z轴(高度) 38±4.4mm X轴(宽度) 16mm
2D/3D线激光轮廓仪HL-8060,Z轴(高度) 62±11mm X轴(宽度) 32mm
2D/3D线激光轮廓仪HL-8080,Z轴(高度) 76.5±28.5mm X轴(宽度) 77mm
2D/3D线激光轮廓仪HL-8200,Z轴(高度) 248±58mm X轴(宽度) 105mm
2D/3D线激光轮廓仪HL-8400,Z轴(高度) 370-118/+350mm X轴(宽度) 239mm
2D/3D线激光轮廓仪HL-8900,Z轴(高度) 930±471mm X轴(宽度) 556mm
激光轮廓仪控制器HL-8000
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专业从事激光位移传感器,激光焊缝跟踪系统研发及销售的科技公司
中国 · 无锡 · 总部地址:无锡新吴区天山路6号
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1
如何在仓储 物流 锂电 烟草等行业实现自动化生产的安全防护?
2022
-
12
-
01
在烟草分级及仓储环节中有大量的自动化设备,比如高速往复运动的穿梭车堆垛机等,如何建立完善的安全预防措施,保障作业人员的人身安全是企业在思考的方向,我们在烟草工业内部系统里面已经积累了众多的成功案例,我们会通过机械安全控制以及电器这三个维度来帮助企业进行评估,具体的改造场景有,立库输送管道出入口防护百度极速可在经过现场评估后我们会给客户出具评估报告和推荐的安全整改。 机械设备,例如马舵机,泄漏机缠绕机等在快消品行业是广泛存在的,特别是码作机器,经常需要操作人员频繁介入该区域应用的工业机器人运行速度快存在着较高的安全隐患,在转运站码垛技术入口,经常采用一套光幕和光电传感器来实现屏蔽功能,从而实现人物分离,在这个应用中,以物体在传中带上面时,车场光电传感器,从而激活,屏蔽功能,当你为触发屏蔽功能很简单,有些操作人员会拿纸箱或者其他东西遮挡这个光电传感器,从而很容易就操纵了这个屏蔽功能,存在着很大的安全隐患,针对这个问题,我们开发出创新高效的是入口防护替代方案,智能门控系统,无锡屏蔽传感器就和实现pp功能,这项专利技术是基于。 专利技术是激光幕,使出入口防务变得更加高效...
2
涂布行业目前主流的非接触式测厚方案一览
2023
-
09
-
11
非接触测量涂布厚度的行业报告摘要:本报告将介绍非接触测量涂布厚度的行业应用场景及解决方案。涂布厚度的准确测量在多个行业中至关重要,如带钢、薄膜、造纸、无纺布、金属箔材、玻璃和电池隔膜等行业。传统的测量方法存在一定的局限性,而非接触测量技术的应用可以提供更准确、高效的测量解决方案。本报告将重点介绍X射线透射法、红外吸收法和光学成像测量方法这三种主要的非接触测量解决方案,并分析其适用场景、原理和优势。引言涂布厚度是涂覆工艺中的一个重要参数,对于保证产品质量和性能具有重要意义。传统的测量方法,如接触式测量和传感器测量,存在一定局限性,如易受污染、操作复杂和不适用于特定行业。而非接触测量方法以其高精度、实时性和便捷性成为行业中的理想选择。行业应用场景涂布厚度的非接触测量方法适用于多个行业,包括但不限于以下领域:带钢:用于热镀锌、涂覆和镀铝等行业,对涂层和薄膜的厚度进行测量。薄膜:用于光学、电子、半导体等行业,对各种功能薄膜的厚度进行测量。造纸:用于测量纸张的涂布、涂胶和覆膜等工艺中的厚度。无纺布:用于纺织和过滤行业,对无纺布的厚度进行测量。金属箔材:用于食品包装、电子器件等行业,对箔材的厚度进行测量。玻璃:用于建筑和汽车行业,对玻璃的涂层厚度进行测量。电池隔膜:用于电池制造行业,对隔膜的厚度进行测量。解决方案一:X射线透射法X射线透射法是一种常用的非接触涂布厚度测量方法,其测量原理基于射线...
3
使用对射的激光距离传感器测量橡胶带接缝位置
2023
-
10
-
11
激光测距传感器对射技术在自动化生产线上的应用愈发广泛,今天我们将介绍一个基于两台激光测距传感器上下对射来检测橡胶带接缝的案例。在橡胶带的生产过程中,橡胶带的接缝是一个非常关键的部位。由于橡胶带在运输行走的过程中,其厚度会随着接缝的存在而变化。接缝是由两个橡胶带重叠在一起形成的,因此接缝的厚度显然会大于橡胶带本身。为了保证产品质量和生产效率,我们需要及时准确地检测并计数橡胶带的接缝。我们采用了两台激光测距传感器进行上下对射的方式来实现这一目标。具体操作如下:首先,将一台激光测距传感器安装在橡胶带上方,另一台安装在橡胶带下方,使得两台传感器之间垂直对射。通过激光束的反射和接收时间的测量,可以获取到橡胶带表面和接缝的距离信息。当橡胶带的接缝位置经过测距传感器时,根据上文提到的厚度大于阈值的特点,我们可以通过一个内部的比较器来判断是否检测到了接缝。当橡胶带的厚度数据高于预设的阈值时,比较器将输出一个开关量信号,表示接缝位置被检测到。通过这种方式,我们不需要具体测量接缝的厚度数值,只需要一个开关量信号,就可以实现对橡胶带接缝位置质量的检测和接缝数量的计数。这对于保证产品质量、提高生产效率具有重要意义。总结起来,利用两台激光测距传感器上下对射的方法,结合内部的比较器功能,我们可以实现对橡胶带接缝位置的检测。这种技术应用既简单又有效,可以在自动化生产线中广泛应用,提高生产效率并确保产品质量的稳定...
4
一场穿越空间的光电舞蹈: TOF激光测距传感器解码记
2023
-
09
-
20
首先,让我们对TOF进行一次短暂的“速读”——它全称叫'time-of-flight',中文怎么说呢?风格洒脱地称之为“飞行时间”。你没听错,就是“飞行时间”。所有的颠覆与创新始于赤裸裸的想象,对吧?再来回过头,看看我们的主角TOF激光测距传感器。激光这东西,我想你肯定不陌生。科幻大片,医美广告里都被频繁提及。对这位明星,我们暂时按下暂停键, 我们聊一聊测距传感器——那可是能把复杂的三维世界,硬是证明成一串串精准数据的硬核工具。当然,他俩的组合,并不是偶然撞壁造成的火花。在“鹰眼”TOF的身上,激光变得更加酷炫,传感器技术也变得更为深邃。他们共舞的主线,就是光的飞行时间。想象一下,要在现实世界计算出光从物体发射出来,然后反射回传感器的时间。你愣了一秒,觉得好像进入了'黑洞'的领域。实则不然,TOF激光测距传感器就是这样“耳提面命”。它以光速旅行者的姿态,穿越空间,告诉我们物体与之间的距离。亲,你有听说过光速吗?大约每秒走30万公里哦,这个速度足够你在一秒钟内去绕地球七点五圈了!TOF激光测距传感器就是他们利用这么一个迅疾的光速,再加上高精度的时钟,来高效精确地计算出飞行时间并转化为距离数据。小编想说,TOF不仅玩科技,他更玩智谋,战胜了同类的超声波、红外线等测距设备。毕竟,被物的颜色、亮度、表面材质,或者环境的温湿度对他来说都不构成锁链。准确到“下毛...
5
面对反射率不同的目标物时,激光位移传感器需要做哪些调整以确保测量的稳定性?
2023
-
10
-
20
面对反射率不同的目标物时,激光位移传感器需要调整以下方面以确保测量的稳定性:根据目标物的反射率变化,调整接收光量。反射率较高的目标物可能导致光量饱和,而反射率较低的目标物可能无法获得足够的接收光量。因此,需要根据目标物的反射特性,适时调整激光位移传感器的接收光量,以使其处于最佳工作状态。使用光量控制范围调整功能。这种功能可以预先决定接收光量的上限和下限,缩短获取最佳光量的时间,从而可以更快地调整光量。针对反射率较高的目标物,需要减小激光功率和缩短发射时间,以避免光量饱和。而对于反射率较低的目标物,则应增大激光功率和延长发射时间,以确保获得足够的接收光量。在调整过程中,需要注意测量反射率急剧变化位置的稳定程度,以及使用光量调整功能以外功能时的稳定程度。如果无法稳定测量反射率不同的目标物,可能是由于目标物的反射光因颜色、反光、表面状况(粗度、倾斜度)等因素而发生变化,导致感光元件(接收光波形)上形成的光点状态也会随之变化。这种情况下,需要通过反复试验和调整,找到最佳的激光位移传感器工作参数。总结来说,激光位移传感器需要根据目标物的反射率变化,调整接收光量、激光发射时间、激光功率和增益等参数,以确保测量的稳定性和准确性。同时,需要注意目标物的反射特性及其变化情况,以便及时调整激光位移传感器的参数。
6
激光测距传感器的功能,你了解多少呢?
2022
-
12
-
03
激光测距传感器的功能,你了解多少呢?大家好,我是无锡宏川传感学堂的李同学。激光测距传感器的功能可分为距离测量和窗口测量。其中距离测量在测距应用中传感器可以随时投入使用。直接给出与物体之间的距离。测量值可用于系统控制或者物体的精准定位。此外还可以选择对数字量模拟,量输出进行调整。如果需要检测尺寸较小的物体。可直接进行窗口测量。通过对参照物进行自学习,传感器可直接测得与标称尺寸的偏差。在这种情况下,数字量输出也可以进行相应的参数进行。除了传感器的尺寸和测量范围。光斑的形状也尤其重要,点击光代表精准聚焦。能精确测量小尺寸的物体。线激光能可靠测量粗糙度比较大的表面积。带纹理的彩色表面。在光泽不均匀或极其粗糙的表面上也能进行稳定的测量。
7
新品牌发布:"新吴科之匠,泓川科创新力场。高精度传感技术,探索未知,领航未来。"
2023
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10
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01
'新吴科之匠',泓川科技有限公司全新打造的传感器新标杆,我们凝聚高端技术力量,专注于高精度、高性能的激光位移传感器LTP系列,光谱共焦传感器LTC系列,白光干涉测厚传感器,线光谱共焦传感器,以及3D结构光和3D线激光。 强大的研发能力和对细节无穷追求,让我们的产品在每个细微处都彰显出卓越品质。'新吴科之匠'不仅寓意着尖端科技的集中体现,更代表着对品质的极致追求。我们相信,只有最好,才能过硬。
8
当目标物的反射率发生急剧变化时,激光位移传感器的测量稳定性会受到怎样的影响?
2023
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10
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20
当目标物的反射率发生急剧变化时,激光位移传感器的测量稳定性会受到影响。反射率较高的目标物可能会达到光饱和状态,这会导致无法正确检测接收光光点位置,从而影响测量的稳定性。对于反射率较低的目标物,可能会因为接收到的光量不足而无法正确检测接收光光点位置,进而影响测量的稳定性。在这种情况下,激光位移传感器需要根据反射率的变化,将接收光量调整到最佳状态后,才能进行稳定的测量。具体来说,针对反射率较高的目标物,可以减小激光功率和缩短发射时间;针对反射率较低的目标物,可以增大激光功率和延长发射时间。这种方法可以帮助调整激光位移传感器的精度,以适应目标物反射率的变化。然而,调整也并非一个简单的过程,需要考虑到测量反射率急剧变化位置的稳定程度以及使用光量调整功能以外功能时的稳定程度。因此,在实际操作过程中,可能需要多次取样和调整才能获取最佳的测量效果。
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突破精度极限:LTC100光谱共焦位移传感器——国产高精度测量的新标杆30nm精度
2024
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11
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20
在当今精密制造与检测领域,对微小尺寸变化的精确测量需求日益增长。特别是在半导体制造、微纳加工、光学元件检测等高端应用中,对测量误差的严格要求往往达到纳米级。面对这一挑战,国内自主研发的LTC100光谱共焦位移传感器以其卓越的性能脱颖而出,不仅实现了30nm以下的测量误差,还保证了光斑直径小于2μm,为高精度测量领域树立了新的国产标杆。技术亮点:超高精度测量:LTC100采用先进的光谱共焦技术,通过精确控制光源发射的多波长光束与被测物体表面反射光之间的干涉现象,实现位移的高精度测量。其核心算法通过复杂的光谱分析与相位解调技术,有效消除了环境干扰和系统误差,确保测量误差稳定控制在30nm以下。微小光斑设计:传感器内置的精密光学系统采用高数值孔径物镜,结合优化的光束整形技术,实现了小于2μm的光斑直径,使得在微小结构或特征上的测量成为可能,显著提高了测量的空间分辨率。测试数据与算法公式:LTC100的性能验证基于严格的实验室测试与现场应用反馈。以下为其关键测试数据:线性度:在0-10mm测量范围内,线性偏差小于±5nm,确保测量的稳定性和可靠性。重复性:连续测量同一位置100次,标准差小于10nm,证明其高重复性和一致性。分辨率:理论上可达0.1nm,实际测量中受环境因素影响,但依旧保持在1nm左右,远超行业平均水平。核心算法公式简述如下:d=2λ0⋅2πΔϕ其中,d为被测位移...
在测量被透明物体覆盖的目标时,环境照明补偿和透视测量是如何帮助提高测量准确性的?
2024
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03
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05
在测量被透明物体覆盖的目标时,环境照明补偿和透视测量是提高测量准确性的重要手段。这些技术的应用,在智能手机等电子设备的制造过程中,具有至关重要的作用。首先,让我们来探讨一下环境照明补偿的作用。在生产线环境中,照明条件往往并不稳定,这会对测量精度产生严重影响。环境照明补偿技术通过自动调整传感器参数,以补偿外部光照条件的变化,使得测量系统能在不同的照明条件下都能保持稳定的测量性能。这就使得我们在测量被透明物体(如手机屏幕)覆盖的目标时,能够得到更为准确的结果。其次,透视测量技术则能够解决透明物体对测量造成的干扰。由于透明物体会让部分光线穿过,使得传统的测量技术难以准确捕捉目标的位置和形状。而透视测量技术则能够通过特殊的光学设计和算法处理,使得传感器能够“看透”透明物体,直接对其背后的目标进行测量。这样,我们就可以在不接触目标的情况下,对其进行准确的测量。在智能手机等电子设备的制造过程中,这两种技术都有着广泛的应用。例如,在手机屏幕的生产过程中,环境照明补偿技术可以帮助我们确保屏幕在各种光线条件下都能显示清晰。而透视测量技术则可以用于测量手机屏幕下的各种元器件,如触摸屏、摄像头等,确保它们的位置和尺寸都符合设计要求。此外,这两种技术还可以结合使用,以提高测量的精度和效率。例如,我们可以先使用透视测量技术确定目标的位置,然后使用环境照明补偿技术对其进行精确测量。这样,我们不仅可以得到更准确...
激光三角测量法是如何实现对透明物体测量的?折射率校正在这个过程中起到了什么作用?
2024
-
03
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05
激光三角测量法:精确测量透明物体的科技新突破在精密测量领域,激光三角测量法已成为一种非常重要的技术手段。这种测量方法尤其适用于透明物体的测量,因为它可以有效地解决透明物体测量中的诸多难题。本文将详细介绍激光三角测量法的原理、步骤,以及折射率校正在此过程中所起到的关键作用。一、激光三角测量法的原理激光三角测量法是一种基于光学三角测量原理的非接触式测量方法。其基本原理是:半导体激光器发出的激光束照射在目标物体上,接收器透镜聚集目标物体反射的光线并聚焦到感光元件上。当目标物体与测量设备之间的距离发生改变时,通过接收器透镜的反射光的位置也会相应改变,光线聚焦在感光元件上的部分也会有所不同。通过精确测量这些变化,就可以得出目标物体的位移、形状等参数。二、激光三角测量法的步骤设定参照距离:首先,需要设定一个参照距离,即在此距离下,激光束与感光元件之间的位置关系已知且稳定。照射激光:然后,通过半导体激光器发出激光束,照射在待测的透明物体上。接收反射光:接收器透镜会聚集从透明物体反射回来的光线,并将其聚焦到感光元件上。分析数据:当透明物体移动或形状发生变化时,反射光在感光元件上的位置也会发生变化。通过精确分析这些变化,就可以得出透明物体的位移、形状等参数。三、折射率校正的作用在测量透明物体时,一个关键的问题是需要考虑光的折射现象。由于透明物体的折射率与空气不同,光线在从空气进入透明物体时会发生折射...
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