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一场关于基恩士光谱共焦传感器:原理、特性与应用的深度全面剖析好文(上)

日期: 2025-01-14
浏览次数: 409
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来自 泓川科技
发表于: 2025-01-14
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一、引言

1.1 研究背景与意义

在工业制造、科研等众多领域,精密测量技术如同基石,支撑着产品质量的提升与科学研究的深入。光谱共焦传感器作为精密测量领域的关键技术,正以其独特的优势,在诸多行业中发挥着无可替代的作用。它能精确测量物体的位移、厚度、表面轮廓等参数,为生产过程的精确控制与产品质量的严格把控提供了关键数据支持。

基恩士作为传感器领域的佼佼者,其推出的光谱共焦传感器在市场上备受瞩目。基恩士光谱共焦传感器凭借卓越的性能,如高精度、高稳定性、快速响应等,在精密测量领域中脱颖而出。在半导体制造过程中,芯片的生产对精度要求极高,基恩士光谱共焦传感器可精准测量芯片的厚度、线宽等关键参数,保障芯片的性能与质量。在光学元件制造领域,其能够精确测量透镜的曲率、厚度等参数,助力生产出高质量的光学元件。

研究基恩士光谱共焦传感器,对于推动精密测量技术的发展具有重要意义。通过深入剖析其原理、结构、性能以及应用案例,能够为相关领域的技术创新提供参考,促进测量技术的不断进步。在实际应用中,有助于用户更合理地选择和使用该传感器,提高生产效率,降低生产成本。在汽车制造中,利用基恩士光谱共焦传感器对零部件进行精密测量,可优化生产流程,减少废品率。

 

1.2 研究现状

在国外,光谱共焦传感器的研究起步较早,技术也相对成熟。法国的STIL公司作为光谱共焦传感器的发明者,一直处于该领域的技术前沿。其研发的光谱共焦传感器,测量精度可达纳米级,在高精度测量领域具有显著优势。德国的Precitec和Micro - Epsilon等公司,在工业应用方面表现出色,其产品广泛应用于汽车制造、机械加工等领域,能够满足不同工业场景下的高精度测量需求。日本的基恩士,以其卓越的传感器技术闻名于世,其光谱共焦传感器在市场上占据重要地位。

而在国内,相关研究起步相对较晚,但发展迅速。近年来,不少科研机构和企业投入到光谱共焦传感器的研究与开发中,取得了一系列成果。上海思显、无锡泓川科技、深圳海伯森等企业,在技术创新和产品研发方面取得了突破,逐渐缩小了与国外企业的差距。深圳立仪科技研发的光谱共焦传感器,在分辨率和线性精度方面表现出色,已成功应用于多个领域。

在对基恩士光谱共焦传感器的研究中发现,虽然其在市场上得到了广泛应用,但其内部光学系统的优化设计、测量算法的改进等方面仍有研究空间。对于不同复杂环境下,该传感器的适应性和稳定性的研究也有待进一步深入。

 

二、基恩士光谱共焦传感器基础认知

2.1 基本工作原理

2.1.1 色散与聚焦原理

基恩士光谱共焦传感器的工作原理,宛如一场精密的光学“舞蹈”,核心在于巧妙运用色散与聚焦的原理。当一束白光,这束包含了各种不同波长的混合光,如同一个五彩斑斓的光团,射入传感器的色散镜头时,神奇的一幕发生了。色散镜头仿佛一位神奇的“光魔法师”,依据不同波长光的特性,将白光精准地分解为一系列单色光,恰似把一条绚丽的彩虹拆解成了一根根单色的光带。

在这个过程中,每一种单色光都因其独特的波长,被赋予了特定的折射角度,进而沿着不同的路径传播。这些单色光在传播过程中,各自聚焦在不同的位置上,在光轴上形成了一条连续且有序的光谱分布。这一光谱分布,就像是一把精心制作的“光学尺子”,每个波长对应的焦点位置都与特定的距离紧密相连。当被测物体出现在测量区域内时,就如同在这把“光学尺子”上选取了一个特定的刻度。某一特定波长的单色光恰好会聚焦在被测物体的表面,如同精准的“光箭”射中目标。这一聚焦过程并非偶然,而是基于色散镜头的精密设计以及光的折射特性,使得不同波长的光能够在不同距离处聚焦,为后续的精确测量奠定了坚实基础。

2.1.2 波长识别与距离测量

当特定波长的单色光聚焦在被测物体表面后,如同被反射镜反射一样,会沿着原路返回,重新进入传感器的光学系统。这束反射光中蕴含着被测物体的位置信息,宛如一封加密的信件,等待着被解读。传感器内部的波长识别系统,恰似一位经验丰富的“密码破解专家”,迅速而准确地对反射光的波长进行识别。这一识别过程,是通过一系列精密的光学元件和复杂的算法实现的。在光学元件方面,可能采用了高精度的光栅、棱镜等,将反射光进一步分解,以便更精确地分析其波长组成。而在算法层面,运用了先进的信号处理技术,对光信号进行快速而准确的分析和处理。

一旦波长被成功识别,传感器便会依据预先建立的波长与距离的对应关系,如同查阅一本精心编制的“字典”,将波长信息精准地转换为被测物体与传感器之间的距离数值。这一对应关系的建立,需要经过大量的实验和精确的校准,以确保在不同的测量环境和条件下,都能实现高精度的测量。整个过程,从光的发射、聚焦、反射,到波长识别和距离计算,一气呵成,展现了基恩士光谱共焦传感器在精密测量领域的卓越技术和精湛工艺。

 

二、基恩士光谱共焦传感器基础认知

2.2 系统构成剖析

2.2.1 传感器探头类型及功能

基恩士光谱共焦传感器的探头类型丰富多样,宛如精密测量领域的“多面手”,每种探头都凭借独特的设计与卓越的性能,在不同的测量场景中展现出非凡的价值。

ø8小型探头CL - L(P)007,堪称探头家族中的“小巧玲珑”。其基准距离为7mm,测量范围达±1.5mm,以超小尺寸的优势,在狭窄空间的测量中尽显身手。在电子芯片制造领域,芯片的尺寸愈发微小,元件之间的间距也极为紧凑。ø8小型探头能够轻松穿梭于这些狭小的空间,对芯片上的微小焊点高度、线路宽度等进行精确测量,为芯片制造的高精度要求提供了可靠保障。其超小的尺寸设计,使其能够适应各种复杂的安装环境,在一些对空间要求苛刻的设备中,也能灵活安装,确保测量工作的顺利进行。

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长量程型探头CL - L(P)15,则是测量范围的“佼佼者”。它拥有150mm的基准距离,测量范围更是达到了令人瞩目的±35mm。在大型机械制造、汽车零部件加工等领域,长量程型探头发挥着不可或缺的作用。在汽车发动机缸体的加工过程中,需要对缸体的内径、深度等较大尺寸参数进行测量。长量程型探头凭借其宽广的测量范围,能够一次性完成对这些参数的精确测量,大大提高了测量效率,减少了测量误差。在大型机械的装配过程中,长量程型探头可以对不同部件之间的相对位置进行精确测量,确保机械装配的精度和稳定性。

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真空、耐热型探头CL - V020和CL - V050,犹如测量领域的“特种部队”,专为极端环境而设计。CL - V020的基准距离为20mm,测量范围为±1.3mm;CL - V050的基准距离为50mm,测量范围为±4mm。这两款探头具备超强的耐环境性能,能够在超高真空环境下稳定工作,满足了半导体制造、真空镀膜等行业对真空环境下精密测量的严格要求。在半导体芯片的制造过程中,需要在超高真空的环境下进行光刻、蚀刻等工艺,真空、耐热型探头能够在这种环境下对芯片的尺寸、形状等参数进行精确测量,确保芯片的制造质量。它们还能承受高达200°C的高温,在一些高温加工工艺中,如金属热处理、玻璃制造等,能够直接在高温环境中对工件进行测量,无需等待工件冷却,极大地提高了生产效率。

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超高精度型探头CL - S015,以其卓越的精度,成为对精度要求极高的测量场景中的“首选利器”。其基准距离为15mm,测量范围为±1mm。在光学镜片制造、精密仪器加工等领域,超高精度型探头能够发挥其高精度的优势,对镜片的曲率半径、表面平整度等参数进行精确测量,确保光学镜片的光学性能。在精密仪器的制造过程中,超高精度型探头可以对仪器的关键零部件进行高精度测量,保证仪器的精度和可靠性。


形状测量型探头CL - PT010,恰似一位精准的“形状雕刻师”,能够准确追踪目标物的形状。其光点直径仅为ø3.5µm,具备出色的角度特性,可测量范围为±45°。在精密模具制造、航空航天零部件加工等领域,形状测量型探头能够对模具的型腔形状、航空发动机叶片的复杂曲面等进行精确测量,为制造工艺的优化和产品质量的提升提供了关键数据支持。

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2.2.2 控制器的关键作用

控制器作为基恩士光谱共焦传感器系统的“大脑”,在数据处理、通信以及系统控制等方面发挥着核心作用。

在数据处理方面,控制器宛如一位高效的“数据分析师”。它能够快速、准确地处理来自传感器探头的大量原始数据。当探头对被测物体进行测量时,会产生一系列包含物体位置、形状等信息的光信号,这些信号被转换为电信号后传输至控制器。控制器运用先进的算法和强大的计算能力,对这些数据进行分析、筛选和整合,从中提取出准确的测量结果。在测量物体的表面轮廓时,控制器会对探头采集到的多个测量点数据进行处理,通过复杂的算法拟合出物体的真实轮廓,从而实现对物体形状的精确测量。


在通信方面,控制器是传感器与外部设备之间的“桥梁”。它支持多种通信方式,如Ethernet、USB、RS - 232C等,能够与上位PC、PLC等设备进行稳定、高效的通信。通过Ethernet通信方式,控制器可以将测量数据实时传输至上位PC,上位PC可以对这些数据进行进一步的分析、存储和展示。在工业自动化生产线中,控制器可以通过PLC链路与PLC进行通信,将测量结果反馈给PLC,PLC根据这些结果对生产过程进行实时控制,实现生产过程的自动化和智能化。

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在系统控制方面,控制器则是整个测量系统的“指挥官”。它能够对传感器探头的工作状态进行精确控制,包括测量频率、采样速度等参数的调节。在不同的测量场景中,根据实际需求,控制器可以灵活调整这些参数,以确保测量结果的准确性和稳定性。在对快速运动的物体进行测量时,控制器可以提高测量频率,确保能够捕捉到物体在不同时刻的位置信息;在对高精度要求的测量任务中,控制器可以降低采样速度,提高测量的精度。控制器还能够对整个系统的运行状态进行监控,及时发现并解决可能出现的故障,保障系统的稳定运行。

 

2.2.3 其他组件概述

除了传感器探头和控制器,基恩士光谱共焦传感器系统中的其他组件,如光学单元、显示面板、缆线等,也各自发挥着重要的支持作用。

光学单元,作为传感器的“光学心脏”,负责将光源发出的光进行精确的调制和聚焦,确保光线能够准确地照射到被测物体上,并将反射光有效地收集和传输回传感器。它采用了先进的光学设计和精密的制造工艺,能够最大限度地减少光线的损耗和干扰,提高测量的精度和稳定性。在一些高精度的测量应用中,光学单元的性能直接影响着测量结果的准确性,其对光线的精确控制能力,使得传感器能够在复杂的环境中实现高精度的测量。

显示面板,犹如系统的“信息窗口”,能够直观地展示测量结果。它具有高分辨率和清晰的显示效果,能够以数字、图形等多种形式呈现测量数据。操作人员可以通过显示面板实时了解测量结果,及时发现测量过程中出现的问题。显示面板的操作界面简洁易懂,方便操作人员进行参数设置和功能选择。在一些需要现场快速查看测量结果的场景中,显示面板的便捷性和直观性能够大大提高工作效率。

缆线,作为连接各个组件的“神经脉络”,确保了信号的稳定传输。它采用了高品质的材料和先进的制造工艺,具有良好的抗干扰能力和耐用性。不同类型的缆线,如探头延长电缆、增设电缆等,能够满足不同的安装和使用需求。在大型测量系统中,缆线的长度和布局需要根据实际情况进行合理规划,以确保信号能够准确、快速地传输到各个组件,保障系统的正常运行。

 

三、基恩士光谱共焦传感器独特性能

3.1 高精度测量性能

3.1.1 精度参数与实际表现

基恩士光谱共焦传感器在精度方面表现卓越,其精度参数令人瞩目。不同型号的传感器在精度上各有特点,以超高精度型CL - L(P)015为例,其测量范围为±1.3mm,直线性误差可达±0.49µm,这一精度在众多测量任务中都能实现极为精确的测量。在实际应用中,该传感器的高精度性能得到了充分验证。在精密光学元件制造中,对于光学镜片的厚度测量要求极高,误差需控制在极小范围内。基恩士CL - L(P)015传感器能够精准测量镜片厚度,其测量精度可确保镜片的光学性能符合严格标准,为高质量光学元件的生产提供了有力保障。

在电子芯片制造领域,芯片的尺寸愈发微小,对测量精度的要求也随之提升。CL - L(P)015传感器能够精确测量芯片上微小结构的尺寸,如线路宽度、焊点高度等。在测量芯片线路宽度时,其精度可以达到微米级甚至更高,能够准确检测出线路宽度的细微变化,为芯片制造工艺的优化提供了关键数据支持。这不仅有助于提高芯片的性能和可靠性,还能减少因测量误差导致的废品率,降低生产成本。

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3.1.2 影响精度的因素及优化措施

尽管基恩士光谱共焦传感器具备高精度的测量能力,但在实际应用中,仍存在一些因素会对其精度产生影响。环境因素是其中之一,温度的变化可能导致传感器内部光学元件的热胀冷缩,从而影响光线的传播路径和聚焦效果,进而引入测量误差。在高温环境下,光学镜片可能会发生微小的变形,使得光线的折射角度发生改变,导致测量结果出现偏差。湿度的变化也可能对传感器的性能产生影响,潮湿的环境可能会使光学元件表面产生雾气或水珠,影响光线的传输和反射,降低测量精度。

为了优化精度,基恩士采用了一系列先进的技术手段和设计。在传感器的结构设计上,采用了高精度的光学元件和稳定的机械结构,以减少因元件制造误差和机械振动对测量精度的影响。在光学元件的选择上,选用了高质量的镜片,其具有低色散、高透过率等特性,能够确保光线在传播过程中的稳定性和准确性。在机械结构方面,采用了精密的加工工艺和稳定的安装方式,减少了机械振动对测量结果的干扰。

在测量算法上,基恩士进行了精心优化。通过先进的算法对测量数据进行处理,能够有效补偿因环境因素和测量过程中产生的误差。采用温度补偿算法,根据传感器内部温度传感器测量到的温度值,对测量结果进行实时补偿,消除温度变化对测量精度的影响。通过对大量测量数据的分析和建模,建立了误差补偿模型,能够对测量过程中的系统误差进行精确补偿,提高测量精度。

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3.2 强环境适应性

3.2.1 耐温、耐湿及防尘防水性能

基恩士光谱共焦传感器在恶劣环境条件下展现出卓越的适应能力。其耐温性能令人称赞,部分型号的传感器能够在高温环境中稳定工作。真空、耐热型探头CL - V020和CL - V050,采用了自主研发的特殊结构,能够承受高达200°C的高温,在如此高温环境下,其光学系统依然能够保持稳定,不会发生性能降低的情况。这一特性使得该传感器在金属热处理、玻璃制造等高温加工行业中具有重要的应用价值。在金属热处理过程中,需要对高温状态下的金属工件尺寸进行测量,CL - V020和CL - V050能够直接在高温环境中对工件进行测量,无需等待工件冷却,不仅提高了测量效率,还避免了因工件冷却过程中可能产生的尺寸变化而导致的测量误差。

在耐湿性能方面,该传感器也表现出色。它能够在一定湿度范围内正常工作,有效抵抗潮湿环境对测量精度的影响。通过采用特殊的密封技术和防护材料,防止水汽进入传感器内部,从而确保了传感器在潮湿环境中的稳定性和可靠性。在一些湿度较高的生产环境中,如食品加工、纺织印染等行业,基恩士光谱共焦传感器能够稳定地进行测量工作,为生产过程的质量控制提供了有力支持。

在防尘防水性能上,基恩士光谱共焦传感器达到了IP67防护等级。这意味着该传感器能够完全防止灰尘进入,即使在短暂浸泡在水中的情况下,也能保证正常工作。其高防水性能,使得在加工现场等易产生飞沫的场所,如机械加工、汽车制造等行业,能够放心使用。在机械加工过程中,冷却液和切削液的飞溅是常见现象,具有高防水性能的基恩士光谱共焦传感器能够在这样的环境中稳定地测量工件的尺寸和形状,不受飞沫的干扰。


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3.2.2 特殊环境下的应用案例

在真空环境下,基恩士的真空、耐热型探头CL - V020和CL - V050发挥了重要作用。在半导体制造领域,芯片的制造过程需要在超高真空环境下进行,以避免杂质对芯片性能的影响。在芯片光刻工艺中,需要精确测量光刻胶的厚度和位置,CL - V020和CL - V050能够在超高真空环境下稳定工作,对光刻胶进行精确测量,确保光刻工艺的精度,从而提高芯片的制造质量。这两款探头的传感器探头内部不使用有机粘合剂,采用SUS304材质,仅有镜头,尽可能减少渗气的产生,满足了真空环境下对传感器的严格要求。

在高温环境的应用中,以玻璃制造行业为例。在玻璃的成型过程中,玻璃处于高温熔融状态,需要对其尺寸和形状进行实时测量和控制,以保证玻璃产品的质量。基恩士的CL - V020和CL - V050传感器能够直接在高温环境中对玻璃进行测量,其特殊结构使得在200°C的高温下,光学系统不会发生变化,性能稳定。通过对玻璃的实时测量,生产人员可以及时调整生产工艺参数,确保玻璃产品的尺寸和形状符合要求,提高生产效率和产品质量。

 

3.3 针对特殊对象的测量能力

3.3.1 透明、半透明及镜面物体测量

基恩士光谱共焦传感器在对透明、半透明及镜面物体的测量方面,展现出独特的优势。其测量原理基于光谱共焦技术,通过对不同波长光的聚焦和反射光的分析,实现对物体的精确测量。对于透明和半透明物体,传感器能够利用不同波长光在物体内部的折射和反射特性,准确地测量物体的厚度、内部结构等参数。在测量透明玻璃片的厚度时,传感器发射的白光经过色散镜头后,不同波长的光在玻璃片中传播的路径不同,通过分析反射光的波长,传感器可以精确计算出玻璃片的厚度。

在测量半透明的塑料薄膜时,传感器能够穿透薄膜,对薄膜的厚度以及内部可能存在的缺陷进行检测。这一特性使得基恩士光谱共焦传感器在光学材料制造、电子器件封装等领域具有重要的应用价值。在光学镜片制造中,需要精确测量镜片的厚度和曲率,传感器能够快速、准确地完成这些测量任务,为镜片的质量控制提供了可靠的数据支持。

对于镜面物体,由于其表面光滑,光线反射规则,传统的测量方法往往难以准确获取物体的表面信息。而基恩士光谱共焦传感器能够通过精确控制光线的聚焦和反射,有效地避免了镜面反射带来的干扰,实现对镜面物体表面轮廓、平整度等参数的高精度测量。在精密模具制造中,模具的表面质量对产品的成型质量至关重要,传感器可以对模具的镜面表面进行精确测量,确保模具的表面平整度符合要求,从而提高产品的质量和生产效率。

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3.3.2 粗糙表面与微小物体测量

在面对粗糙表面的测量时,基恩士光谱共焦传感器采用了先进的算法和光学技术,能够有效地克服表面粗糙度对测量精度的影响。传感器通过发射多种波长的光,并对反射光进行综合分析,能够准确地确定物体的真实表面位置,减少因表面凹凸不平而产生的测量误差。在测量金属铸件的粗糙表面时,传感器能够快速、准确地获取表面的轮廓信息,为后续的加工和质量检测提供了重要的数据支持。这一特性使得该传感器在机械加工、汽车制造等行业中得到了广泛应用。在汽车零部件的加工过程中,需要对零部件的表面粗糙度进行测量,以确保其符合质量标准,基恩士光谱共焦传感器能够满足这一需求,为汽车制造的质量控制提供了有力保障。

对于微小物体的测量,基恩士光谱共焦传感器凭借其高精度的光学系统和微小的光点尺寸,能够实现对微小物体的精确测量。形状测量型探头CL - PT010的光点直径仅为ø3.5µm,能够准确地追踪微小物体的形状和尺寸。在电子芯片制造中,芯片上的微小电路和元件需要进行精确测量,传感器能够对这些微小结构进行测量,确保芯片的制造精度和性能。在生物医学领域,对于细胞、微生物等微小物体的测量也具有重要意义,传感器可以对细胞的形态、大小进行测量,为生物医学研究提供了重要的技术手段。


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    2025 - 03 - 04
    在工业自动化领域,激光位移传感器是精密测量的核心器件,而进口品牌长期占据市场主导地位。然而,国产传感器技术近年来飞速发展,无锡泓川科技推出的 LTP系列激光位移传感器,凭借不输国际品牌基恩士LK-G系列的性能表现,以及仅为其一半的成本优势,为国产替代提供了极具竞争力的选择。本文将从核心技术、性能参数、应用场景及综合成本四大维度,对两者进行深度对比分析。 一、核心技术对比:自主创新突破瓶颈技术维度泓川LTP系列基恩士LK-G系列光学设计投受光分离型设计,支持同轴测量与镜面材料检测Li-CCD接收技术,优化像素边缘误差抗干扰能力蓝宝石防护镜+特殊滤波,抗强光(20000Lux)ND滤镜选件,适应镜面/高反光环境光斑控制宽光斑/聚焦光斑可选,适配粗糙表面与微小目标小光斑(最小20μm)与宽光斑(圆柱镜头扩展)算法优化半透明材料漫反射算法,消除内部散射干扰RPD/MRC算法,处理多重反射与透明材料分层测量光源定制405nm蓝光定制,适用于有机材料与红热金属标准655nm红光,可选ND滤镜适配高反射场景    技术亮点: LTP系列通过投受光分离设计实现与执行器(如工业相机、点胶针头)的同轴集成,解决了传统传感器空间干涉问题;其蓝光定制技术针对基恩士红光方案的局限性,在透明/半透明材料(如薄膜、玻璃)及高温金属表面测量中表现更优。二、性能参数对标:...
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    2023 - 09 - 16
    大家好,今天给大家详细说明下目前我们市面上用的激光位移传感器内部构造及详细原理、应用、市场种类、及未来发展,我在网上搜索了很多资料,发现各大平台或者厂商提供的信息大多千篇一律或者式只言片语,要么是之说出大概原理,要买只讲出产品应用,对于真正想了解激光位移传感器三角回差原理的朋友们来说总是没有用办法说透,我今天花点时间整理了各大平台的大牛们的解释,再结合自己对产品这么多年来的认识,整理出以下这篇文章,希望能给想要了解这种原理的小伙伴一点帮助!好了废话不多说我们直接上干货首先我们要说明市面上的激光测量位移或者距离的原理有很多,比如最常用的激光三角原理,TOF时间飞行原理,光谱共焦原理和相位干涉原理,我们今天给大家详细介绍的是激光三角测量法和激光回波分析法,激光三角测量法一般适用于高精度、短距离的测量,而激光回波分析法则用于远距离测量,下面分别介绍激光三角测量原理和激光回波分析原理。让我们给大家分享一个激光位移传感器原理图,一般激光位移传感器采用的基本原理是光学三角法:半导体激光器:半导体激光器①被镜片②聚焦到被测物体⑥。反射光被镜片③收集,投射到CMOS阵列④上;信号处理器⑤通过三角函数计算阵列④上的光点位置得到距物体的距离。一 、激光位移传感器原理之激光三角测量法原理1.激光发射器通过镜头将可见红色激光射向被测物体表面,经物体反射的激光通过接收器镜头,被内部的CCD线性相机接收,根据...
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    2024 - 01 - 21
    白光干涉测厚仪是一种非接触式测量设备,广泛应用于测量晶圆上液体薄膜的厚度。其原理基于分光干涉原理,通过利用反射光的光程差来测量被测物的厚度。白光干涉测厚仪工作原理是将宽谱光(白光)投射到待测薄膜表面上,并分析返回光的光谱。被测物的上下表面各形成一个反射,两个反射面之间的光程差会导致不同波长(颜色)的光互相增强或者抵消。通过详细分析返回光的光谱,可以得到被测物的厚度信息。白光干涉测厚仪在晶圆水膜厚度测量中具有以下优势:1. 测量范围广:能够测量几微米到1mm左右范围的厚度。2. 小光斑和高速测量:采用SLD(Superluminescent Diode)作为光源,具有小光斑和高速测量的特点,能够实现快速准确的测量。下面是使用白光干涉测厚仪测量晶圆上水膜厚度的详细步骤:1. 准备工作:确保待测晶圆样品表面清洁平整,无杂质和气泡。2. 参数设置:调整白光干测厚涉仪到合适的工作模式,并确定合适的测量参数和光学系统设置。根据具体要求选择光谱范围、采集速度等参数。3. 样品放置:将待测晶圆放置在白光干涉测厚仪的测量台上,并固定好位置,使其与光学系统保持稳定的接触。确保样品与测量台平行,并避免外界干扰因素。4. 启动测量:启动白光干涉测厚仪,开始测量水膜厚度。通过记录和分析返回光的光谱,可以得到晶圆上水膜的厚度信息。可以通过软件实时显示和记录数据。5. 连续监测:对于需要连续监测晶圆上水膜厚度变...
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    2025 - 03 - 22
    一、核心性能参数对比:精度与场景适配性参数泓川科技LTC2600(标准版)泓川LTC2600H(定制版)基恩士CL-P015(标准版)参考距离15 mm15 mm15 mm测量范围±1.3 mm±1.3 mm±1.3 mm光斑直径9/18/144 μm(多模式)支持定制(最小φ5 μm)ø25 μm(单点式)重复精度50 nm50 nm100 nm线性误差±0.49 μm(标准模式)分辨率0.03 μm0.03 μm0.25 μm(理论值)防护等级IP40IP67(定制)IP67耐温范围0°C ~ +50°C-20°C ~ +200°C(定制)0°C ~ +50°C真空支持不支持支持(10^-3 Pa,定制)支持(10^-6 Pa,标准版)重量228 g250 g(高温版)180 g性能深度解析精度碾压:LTC2600的重复精度(50 nm)显著优于CL-P015(100 nm),线性误差(光斑灵活性:LTC2600支持多光斑模式(最小φ5 μm定制),可兼顾微小目标检测与粗糙面稳定性;CL-P015仅提供单点式光斑(ø25 μm),适用场景受限。环境适应性:CL-P015标准版支持超高真空(10^-6 Pa),但C2600通过...
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    2025 - 01 - 16
    一、引言1.1 研究背景与目的在汽车行业迈向智能化与自动化的进程中,先进驾驶辅助系统(ADAS)作为关键技术,正发挥着愈发重要的作用。ADAS 凭借多种传感器与智能算法,能够实时监测车辆周边环境,为驾驶员提供预警与辅助控制,极大地提升了驾驶的安全性与舒适性。本报告旨在深入剖析《ADAS 相关工具 核心功能 & 技术》中所涉及的 ADAS 相关工具应用案例,通过详细描述各案例的具体应用场景、工作原理及达成的效果,深度挖掘这些工具在汽车制造及 ADAS 系统开发过程中的重要价值,为行业内相关人员提供具有实际参考意义的信息,助力推动 ADAS 技术的进一步发展与广泛应用。 1.2 研究方法与数据来源本报告通过对《ADAS 相关工具 核心功能 & 技术》进行全面细致的整理与深入分析,从中系统地提取出各类 ADAS 相关工具的应用案例。在分析过程中,对每个案例的技术原理、应用场景以及所实现的功能进行了详细阐述,并结合实际情况进行了深入探讨。本文所引用的 ADAS 相关工具的应用案例及技术原理均来自《ADAS 相关工具 核心功能 & 技术》文档,该文档为此次研究提供了丰富且详实的一手资料,确保了研究的准确性与可靠性。 二、车载相机应用案例剖析2.1 底部填充胶涂抹高度测量2.1.1 案例描述在汽车电子制造中,车载相机的底部填充胶涂抹高度对于确保相机的...
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    2022 - 12 - 01
    在烟草分级及仓储环节中有大量的自动化设备,比如高速往复运动的穿梭车堆垛机等,如何建立完善的安全预防措施,保障作业人员的人身安全是企业在思考的方向,我们在烟草工业内部系统里面已经积累了众多的成功案例,我们会通过机械安全控制以及电器这三个维度来帮助企业进行评估,具体的改造场景有,立库输送管道出入口防护百度极速可在经过现场评估后我们会给客户出具评估报告和推荐的安全整改。                机械设备,例如马舵机,泄漏机缠绕机等在快消品行业是广泛存在的,特别是码作机器,经常需要操作人员频繁介入该区域应用的工业机器人运行速度快存在着较高的安全隐患,在转运站码垛技术入口,经常采用一套光幕和光电传感器来实现屏蔽功能,从而实现人物分离,在这个应用中,以物体在传中带上面时,车场光电传感器,从而激活,屏蔽功能,当你为触发屏蔽功能很简单,有些操作人员会拿纸箱或者其他东西遮挡这个光电传感器,从而很容易就操纵了这个屏蔽功能,存在着很大的安全隐患,针对这个问题,我们开发出创新高效的是入口防护替代方案,智能门控系统,无锡屏蔽传感器就和实现pp功能,这项专利技术是基于。             专利技术是激光幕,使出入口防务变得更加高效...
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    2023 - 09 - 11
    非接触测量涂布厚度的行业报告摘要:本报告将介绍非接触测量涂布厚度的行业应用场景及解决方案。涂布厚度的准确测量在多个行业中至关重要,如带钢、薄膜、造纸、无纺布、金属箔材、玻璃和电池隔膜等行业。传统的测量方法存在一定的局限性,而非接触测量技术的应用可以提供更准确、高效的测量解决方案。本报告将重点介绍X射线透射法、红外吸收法和光学成像测量方法这三种主要的非接触测量解决方案,并分析其适用场景、原理和优势。引言涂布厚度是涂覆工艺中的一个重要参数,对于保证产品质量和性能具有重要意义。传统的测量方法,如接触式测量和传感器测量,存在一定局限性,如易受污染、操作复杂和不适用于特定行业。而非接触测量方法以其高精度、实时性和便捷性成为行业中的理想选择。行业应用场景涂布厚度的非接触测量方法适用于多个行业,包括但不限于以下领域:带钢:用于热镀锌、涂覆和镀铝等行业,对涂层和薄膜的厚度进行测量。薄膜:用于光学、电子、半导体等行业,对各种功能薄膜的厚度进行测量。造纸:用于测量纸张的涂布、涂胶和覆膜等工艺中的厚度。无纺布:用于纺织和过滤行业,对无纺布的厚度进行测量。金属箔材:用于食品包装、电子器件等行业,对箔材的厚度进行测量。玻璃:用于建筑和汽车行业,对玻璃的涂层厚度进行测量。电池隔膜:用于电池制造行业,对隔膜的厚度进行测量。解决方案一:X射线透射法X射线透射法是一种常用的非接触涂布厚度测量方法,其测量原理基于射线...
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蓝光光源激光位移传感器:优势、原理与特殊场景解决方案 —— 泓川科技 LTP 系列 405nm 定制... 2025 - 10 - 21 在工业精密测量中,传统红光激光位移传感器常受高反射、半透明、高温红热等特殊场景限制,而蓝光光源(405nm 波长)凭借独特物理特性实现突破。以下通过 “一问一答” 形式,详解蓝光传感器的优势、原理构造,并结合泓川科技 LTP 系列定制方案,看其如何解决特殊环境测量难题。1. 蓝光光源激光位移传感器相比传统红光,核心优势是什么?蓝光传感器的核心优势源于 405nm 波长的物理特性,相比传统 655nm 左右的红光,主要体现在三方面:更高横向分辨率:根据瑞利判据,光学分辨率与波长成反比。蓝光波长仅为红光的 62%(405nm/655nm≈0.62),相同光学系统下横向分辨率可提升约 38%,能形成更小光斑(如泓川 LTP025 蓝光版光斑最小达 Φ18μm),适配芯片针脚、晶圆等微米级结构测量。更强信号稳定性:蓝光单光子能量达 3.06eV,远高于红光的 2.05eV。在低反射率材料(如橡胶、有机涂层)表面,能激发出更强散射信号;同时穿透性更低,仅在材料表层作用,避免内部折射干扰,适合表面精准测量。更优抗干扰能力:蓝光波段与红热辐射(500nm 以上)、户外强光(可见光为主)重叠度低,搭配专用滤光片后,可有效隔绝高温物体自发光、阳光直射等干扰,这是红光难以实现的。2. 蓝光激光位移传感器的原理构造是怎样的?为何能实现高精度测量?蓝光传感器的高精度的核心是 “光学设计 + 信号处理 + ...
泓川科技国产系列光谱共焦/激光位移传感器/白光干涉测厚产品性能一览 2025 - 09 - 05 高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计,精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点:精度卓越:±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度,确保测量数据稳定可靠;量程适配:覆盖 10μm2mm 测厚范围,满足多数半导体材料检测需求;高效高速:40kHz 采样速度,快速捕捉厚度数据,适配在线检测节奏;灵活适配:宽范围工作距离设计,可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器:半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途:针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景,提供高速实时对焦支持,尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点:对焦速度快:50kHz 高速对焦,同步匹配缺陷检测的实时性需求;对焦精度高:0.5μm 对焦精度,保障缺陷成像清晰、检测无偏差;设计灵活:分体式结构,可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整,降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪:极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途:专注于极薄膜...
多方面研究泓川科技LTP系列大量程全国产激光位移传感器 2025 - 09 - 02 泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如下表所示:表 1:LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算(*1)量程200mm-重复精度(静态)3μm测量标准白色陶瓷样件,50kHz 无平均,取 65536 组数据均方根偏差(*2)线性度±0.03%F.S.(F.S.=200mm)采用纳米级激光干涉仪标定(*3)光源与光斑光源类型-激光功率可定制,部分型号提供 405nm 蓝光版本(*4)光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径,两端相对变大(*5)电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出(选配)电压:0-5V/010V/-1010V;电流:420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出(*6)通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块(*7)响应...
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