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高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计,精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点:精度卓越:±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度,确保测量数据稳定可靠;量程适配:覆盖 10μm2mm 测厚范围,满足多数半导体材料检测需求;高效高速:40kHz 采样速度,快速捕捉厚度数据,适配在线检测节奏;灵活适配:宽范围工作距离设计,可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器:半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途:针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景,提供高速实时对焦支持,尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点:对焦速度快:50kHz 高速对焦,同步匹配缺陷检测的实时性需求;对焦精度高:0.5μm 对焦精度,保障缺陷成像清晰、检测无偏差;设计灵活:分体式结构,可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整,降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪:极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途:专注于极薄膜厚度测量,广泛适用于光学膜、功能膜、半导体工艺中的极薄涂层 / 薄膜检测。性能优点:极薄检测能力:最小测量厚度低至 20nm,20nm 测厚范围覆盖多数极薄膜场景;超高准确度:±1nm 准确度 + 0.05nm 重复精度,精准捕捉极细微厚度变化,严控工艺偏差;在线适配:最高 100Hz 采样速度,可融入生产线实现快速在线检测,不影响生产节奏。4. LT-C 光谱共焦位移传感器:复杂环境测...
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更新日期: 2025 - 09 - 05
泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如下表所示:表 1:LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算(*1)量程200mm-重复精度(静态)3μm测量标准白色陶瓷样件,50kHz 无平均,取 65536 组数据均方根偏差(*2)线性度±0.03%F.S.(F.S.=200mm)采用纳米级激光干涉仪标定(*3)光源与光斑光源类型-激光功率可定制,部分型号提供 405nm 蓝光版本(*4)光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径,两端相对变大(*5)电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出(选配)电压:0-5V/010V/-1010V;电流:420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出(*6)通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块(*7)响应时间20us/50us/100us/125us/200us/500us/1ms,最高 6.25us 可选-性能参数采样频率Max. 50kHz(全量程)/Max. 160kHz(全量程缩小到 20%)-外部输入功能激光关闭、采样保持、单脉冲触发、归零等-环境与结构防护等级IP67(IEC)-工作温度0°C+50℃(不可结露、结冰);保存温度:-20℃+70℃(可订制 - 40℃70℃...
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更新日期: 2025 - 09 - 02
激光位移传感器可以对于金属及硅构件在测量中,实现精准且稳定的测量效果,不仅如此,激光位移传感还能够通过测量软件测量透明材料的厚度。因此激光位移传感器也受到了一众企业的青睐,到底怎样选购激光位移传感器呢,可以从下面的内容参考。1. 看其生产厂家在诸多测量原理的位移传感器中,激光位移传感器厂家市场是比较混乱,而且其产品质量也相较于其他类是良莠不齐的。甚至有商家明明只是代理国外某个品牌,却声称其是原厂生产,等发生问题以后,由于前期技术方案已经定型,无法更改,而这样又往往会带来后续更大的问题。因此对于激光位移传感器厂家的考察时极为关键的,因为理论上讲,激光位移传感器结构并非十分复杂,国内的某些厂家也可以做出来,但是精度和重复性与正规靠谱的厂家相较起来,就有天壤之别2.看其性价比一般而言企业对于激光位移传感器的使用效果及价格是极为重视的,任何企业都想在节省成本的同时希望购买的产品质量能够过硬。但是仍然有些企业一味的追求激光位移传感器价格上的低廉,而对于产品质量并不重视,这样的行为是不可取得。对于性价比的考虑不仅要从其价格上,还要从产品质量、使用寿命等因素上详细了解,多加比对才可以。近年来激光位移传感器发展可谓是飞速且高效,而人们对于其的不断研究和不断创新也使其得到了更为广泛的应用。因此对其的选购一定要慎之又慎,不然不但会影响使用环节,而且如果导致生产线停止,更会引发不必要的损失。还要注意对激...
发布时间: 2020 - 08 - 17
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激光测距传感器在工作时向目的射出一束很细的激光,由光电元件接纳目的反射的激光束,计时器测定激光束从发射到接纳的时间,计算出从观测者到目的的间隔。远距离激光测距传感器成像在仪表内部集成电路芯片CCD上,CCD芯片性能稳定工作寿命长且根本不受工作环境和温度的影响。下面介绍一下激光测距传感器的应用场景有哪些?1、汽车防撞探测大多数现有汽车碰撞预防系统的激光测距传感器运用激光光束以不接触方式用于辨认汽车的间隔。当汽车间距小于预定安全间隔时汽车防碰撞系统对汽车进行紧急刹车或者对司机发出报警或者综合目的汽车速度车距以及响应时间等对汽车行驶进行即时的判别和响应能够大量的减少行车事故,在高速公路上运用激光测距传感器其优点愈加明显。2、车流量监控运用方式普通固定到高速或者重要路口的龙门架上,激光发射和接纳垂直空中向下对准一条车道的中间位置,当有车辆通行时激光测距传感器能实时输出所测得的间隔值的相对改动值进而描画出所测车的轮廓。这种丈量方式普通运用测距范围且需要激光测距速率比较高。3、无人机操控自从自动驾驶等新概念系统的兴起,连带刺激测距与避障技术需要。其中测距为避障的基础并有多种技术能够完成测距,包含无线射频和超音波以及红外线以及激光雷射等。这些技术各有其优缺陷且本钱也有差别性且在重要路段监控能够到达很好的效果,可以辨别各种车型对车身高度扫描的采样率高,对车流限高限长和车辆分型等都能实时候辨并能快速...
发布时间: 2020 - 08 - 14
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在开展对桥梁梁体位移、裂缝、支座位移、梁体应力、挠度、环境温度和风力风向等参数的监测的时候,位移是结构监测的重要参数之一,为避免接触式位移传感器存在的精度低、易磨损、长期稳定性差等缺点,往往会使用专业的激光位移传感器。那么,激光位移传感器受欢迎的原因有哪些呢?1、光强的调节方便在实际应用中,由于工作环境、光照强度或被测物体表面漫反射情况的不同,使得激光位移传感器上像点接受的光强也不同,从而造成输出的像点位置视频信号时强时弱,给后续的信号处理造成很大的困难。而激光位移传感器应根据被测物体的材料和表面状况以及测量环境来自适应调节发射激光的光强,从而调节激光位移传感器输出信号的强弱。国产激光位移传感器都具备这一优点。2、测量误差较小位移传感器在工作过程中,难免会产生一些误差,影响激光位移传感器的应用范围。而激光位移传感器在深入分析当前传感器测量中的三角法工作原理的基础上,针对实际应用要求,采用二乘支持向量机对前激光位移传感器测量误差变化趋势进行建模,可以准确估计前激光位移传感器的测量误差,较好的拟合了光位移传感器的测量误差变化特性。3、应用领域广泛激光位移传感器在进行冻土室内试验时,要求的位移量程小,精度高,主要采用激光三角测量法。由于冻土测试时的环境条件并不是理想环境,普通位移传感器的线性度会降低。因此,在冻土测试中使用激光位移传感器时,不受冻土恶劣环境的影响。位移监测是轨道交通桥梁监...
发布时间: 2020 - 08 - 13
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众所周知,激光位移传感器是一种本身比较精准的精密测量仪器,而根据激光位移传感器功能介绍可以得知,只要掌握了激光位移传感器怎样调整之后,掌握正确的操作方式方可更好的确保其测量的精准性。那么究竟激光位移传感器如何测量才更精准呢?1、选择适合的量程激光位移传感器‍属于一种非接触类型的移动传感器,而且测量的精度与量程有着直接的关系,如果量程过小就会使激光位移传感器在工作的过程当中比较难以调节,也会造成距离被测物体过近等一系列问题,所以想要保证激光位于传感器的测量更加精准,首先就需要根据被测物体的距离和精度进行匹配,选择一个比较合适的量程。2、确保被测样品符合要求如果是对一些大批量的物品进行测量,在抽取样品的时候,要保证被测样品是符合测量要求的,尤其是对于三角反射式激光位移传感器,被测物体的表面粗糙程度要合适,要能够形成漫反射才可以进行测量,而如果是镜面表面则需要使用特殊的探头,保证合适的安装角度。另外还需要尽可能选择浅色,并且表面虚光不严重的物体进行测量。3、确保装卡牢固,无干扰在利用激光位移传感器进行测量的时候整个测量路线当中的噪音可能会干扰其测量结果的精准度,所以要确保整个线路当中的噪音干扰可以得到有效的屏蔽,另外还需要激光位移传感器和被测物体的装卡一定要牢固不松动。如上所述,想要更好地保证激光位移传感器‍的测量结果更为精准,则用户在测量时就需要选择一个适合的量程,然后选择合适的样品进...
发布时间: 2020 - 07 - 28
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2025 - 09 - 05
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高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料...
2025 - 09 - 02
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泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如...
 公司总机:0510-88155119  图文传真:0510-88152650  销售移动电话:13301510675  
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泓川科技国产系列光谱共焦/激光位移传感器/白光干涉测厚产品性能一览 2025 - 09 - 05 高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计,精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点:精度卓越:±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度,确保测量数据稳定可靠;量程适配:覆盖 10μm2mm 测厚范围,满足多数半导体材料检测需求;高效高速:40kHz 采样速度,快速捕捉厚度数据,适配在线检测节奏;灵活适配:宽范围工作距离设计,可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器:半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途:针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景,提供高速实时对焦支持,尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点:对焦速度快:50kHz 高速对焦,同步匹配缺陷检测的实时性需求;对焦精度高:0.5μm 对焦精度,保障缺陷成像清晰、检测无偏差;设计灵活:分体式结构,可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整,降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪:极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途:专注于极薄膜...
多方面研究泓川科技LTP系列大量程全国产激光位移传感器 2025 - 09 - 02 泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如下表所示:表 1:LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算(*1)量程200mm-重复精度(静态)3μm测量标准白色陶瓷样件,50kHz 无平均,取 65536 组数据均方根偏差(*2)线性度±0.03%F.S.(F.S.=200mm)采用纳米级激光干涉仪标定(*3)光源与光斑光源类型-激光功率可定制,部分型号提供 405nm 蓝光版本(*4)光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径,两端相对变大(*5)电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出(选配)电压:0-5V/010V/-1010V;电流:420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出(*6)通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块(*7)响应...
泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器,32KHz 高速采样引领工业... 2025 - 08 - 30 泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器,32KHz 高速采样引领工业高精度测量革新近日,工业高精度测量领域迎来技术突破 —— 泓川科技正式推出LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦传感器控制器(含单通道 LT-CPS、双通道 LT-CPD、四通道 LT-CPF 三款型号,含普通光源与高亮激光光源版本)。该系列产品以 “32KHz 高速采样” 与 “ETHERCAT 工业总线” 为核心亮点,填补了行业内 “高频响应 + 实时协同” 兼具的技术空白,为新能源、半导体、汽车制造等高端领域的动态高精度测量需求提供了全新解决方案。一、核心突破:32KHz 高速采样,破解 “多通道降速” 行业痛点光谱共焦技术的核心竞争力在于 “高精度” 与 “响应速度” 的平衡,而 LT-CP 系列在速度维度实现了关键突破 ——单通道模式下最高采样频率达 32KHz,意味着每秒可完成 32000 次精准距离 / 厚度测量,相当于对动态移动的被测物体(如高速传输的电池极片、晶圆)实现 “无遗漏” 的高频捕捉,测量分辨率与动态响应能力远超行业常规 10-20KHz 级别控制器。更具稀缺性的是,该系列打破了 “多通道即降速” 的传统局限:即使在双通道模式(最高 16KHz)、四通道模式(最高 8KHz)下,仍保持高频响应的稳定性。以四通道 LT-CPF 为例,其每通道 8...
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