服务热线: 0510-88155119
13301510675@163.com
Language

泓川科技白光干涉测厚仪:精准测量透明薄膜/镀膜厚度的黑科技

日期: 2025-01-10
浏览次数: 196
发表于:
来自
发表于: 2025-01-10
浏览次数: 196

一文读懂白光干涉测厚仪

在工业生产、科研领域,精准测量材料厚度常常起着决定性作用。从电子设备的精细薄膜,到汽车制造的零部件,再到航空航天的关键组件,材料厚度的精准把控,直接关系到产品质量与性能。而在众多测厚技术中,白光干涉测厚仪凭借其超高精度与先进原理,脱颖而出,成为众多专业人士的得力助手。今天,就让我们一起深入了解这款神奇的仪器。

泓川科技白光干涉测厚仪:精准测量透明薄膜/镀膜厚度的黑科技


原理:光学魔法精准测厚

白光干涉测厚仪的核心原理,宛如一场精妙的光学魔法。仪器内部的光源发出的白光,首先经过扩束准直,让光线更加整齐有序。随后,这束光抵达分光棱镜,被巧妙地分成两束。一束光射向被测物体表面,在那里发生反射;另一束光则投向参考镜,同样被反射回来。这两路反射光如同久别重逢的老友,再次汇聚,相互干涉,形成了独特的干涉条纹。


这些干涉条纹就像是大自然书写的密码,它们的明暗程度以及出现的位置,与被测物体的厚度紧密相关。当薄膜厚度发生细微变化时,光程差也随之改变,干涉条纹便会相应地舞动起来。通过专业的探测器接收这些条纹信号,并运用复杂而精准的算法进行解析,就能精确地计算出薄膜的厚度值,就如同从神秘的密码中解读出关键信息一般。

泓川科技白光干涉测厚仪:精准测量透明薄膜/镀膜厚度的黑科技

打个比方,想象白光如同一场盛大的交响乐,不同波长的光如同各种乐器发出的声音。当它们在物体表面反射并干涉时,就像是乐器合奏,产生出独特的 “旋律”—— 干涉条纹。而我们的测厚仪,便是那位精通音律的大师,能从这旋律中精准听出薄膜厚度的 “音符”。


优势尽显,脱颖而出

(一)高精度:纳米级精度领航

白光干涉测厚仪最令人瞩目的优势,便是其超高的测量精度,能够达到纳米级别。在半导体芯片制造领域,芯片上的光刻胶涂层厚度往往仅有几十纳米到几百纳米,细微的厚度偏差都可能导致芯片性能大打折扣。而白光干涉测厚仪凭借其精密的光学系统与先进的算法,能够精准捕捉到这微小的厚度变化,确保每一片芯片的质量稳定可靠。同样,在光学镀膜行业,镜片表面的镀膜厚度精确与否直接关系到镜片的透光率、反射率等关键性能指标。仪器的纳米级精度,为生产高品质光学镜片提供了坚实保障,让每一束光线都能精准折射、反射,满足高端光学设备的严苛要求。


(二)非接触无损:呵护样品每一处

采用非接触式测量方式,是白光干涉测厚仪的又一大利器。在生物医学领域,对于细胞培养皿表面的涂层厚度测量,若采用接触式测量,极易破坏脆弱的细胞结构,影响实验结果。而白光干涉测厚仪如同一位温柔的守护者,无需与样品直接接触,通过接收反射光就能精确测量涂层厚度,确保细胞实验不受干扰,顺利推进科研进程。再看文物保护领域,古代书画的纸张、丝绸文物的修复,需要精确知晓其表面修复材料的厚度,任何一点物理接触都可能对文物造成不可逆的损伤。此时,白光干涉测厚仪的非接触特性就凸显出来,它在不触碰文物的前提下,为文物修复专家提供精准的厚度数据,助力文物重现昔日光彩。

泓川科技白光干涉测厚仪:精准测量透明薄膜/镀膜厚度的黑科技


(三)宽量程:厚度测量全覆盖

拥有从纳米级到毫米级的超宽测量量程,使得白光干涉测厚仪能够在众多行业大显身手。在锂电隔膜生产中,隔膜的厚度通常在几微米到几十微米之间,太薄可能导致电池短路,太厚则会影响电池的能量密度。测厚仪能够轻松应对这一范围的厚度测量,确保每一张锂电隔膜都符合严格的质量标准,为新能源汽车、电子产品的电池安全保驾护航。而在建筑板材行业,对于一些新型的保温板材、装饰板材,其厚度可能达到数毫米,仪器同样可以精准测量,从原材料的质量把控,到成品的质量检验,全程保障建筑板材的品质,为建筑工程的稳固与节能贡献力量。


(四)高重复性:稳定如一的保障

重复性是衡量仪器可靠性的关键指标,白光干涉测厚仪在这方面表现卓越。在大规模的工业生产线上,如电子产品的触摸屏生产,需要对每一块触摸屏的 ITO 膜层厚度进行多次测量,以确保产品的一致性。仪器凭借其稳定的光学系统和精准的信号处理能力,无论进行多少次测量,都能将误差控制在极小范围内,保证每一块触摸屏的触控性能均匀稳定,提升产品的良品率,降低生产成本。在质量监控环节,高重复性更是不可或缺,它让检测数据具有高度的可比性,一旦出现厚度异常波动,能够及时预警,为生产工艺的调整提供可靠依据。


(五)快速测量:高效赋能生产

在当今快节奏的生产与科研环境中,时间就是成本,效率就是竞争力。白光干涉测厚仪具备快速测量的能力,能够在短时间内完成大量样品的厚度测量任务。在工业流水线生产中,例如食品包装薄膜的生产,每分钟都有数十米的薄膜产出,需要实时监测薄膜厚度。仪器可以高速采集数据,快速给出测量结果,确保生产线能够及时调整工艺参数,避免出现大量次品,保障生产的连续性与高效性。在科研实验中,面对大量的实验样品,快速测量能够让科研人员在有限的时间内获取更多数据,加速科研项目的推进,抢占科研创新的先机。


应用场景:多领域的得力助手


(一)半导体制造:芯片工艺的 “把关人”

在半导体领域,白光干涉测厚仪可谓是芯片制造工艺中的 “关键先生”。晶圆作为芯片的基础,其表面平整度与薄膜厚度的精准控制至关重要。例如在光刻工艺后,测厚仪能够以纳米级的精度快速测量光刻胶的厚度,确保光刻图案的清晰度与精度,就像为芯片绘制蓝图的精准画师。而在芯片封装阶段,对于金属镀层、绝缘层等多层结构的厚度测量,它可以同时检测多层膜厚,实时反馈数据,助力工程师及时调整工艺参数,保证芯片的电气性能与稳定性,是芯片从设计到成品过程中不可或缺的质量 “把关人”。

泓川科技白光干涉测厚仪:精准测量透明薄膜/镀膜厚度的黑科技


(二)光学加工:雕琢光学精密之美

光学镜片、镀膜等光学元件的加工,对精度要求近乎苛刻,一丝一毫的偏差都可能让光线 “迷路”。白光干涉测厚仪在此领域大显身手,它能够精确测量镜片表面的粗糙度、曲率半径以及镀膜厚度。对于高精度光学镜头,通过测量不同区域的厚度数据,为研磨、抛光等工艺提供精准指导,确保镜头成像清晰、畸变小,让天文望远镜能窥探宇宙深处的奥秘,让显微镜能揭开微观世界的面纱,推动着光学仪器向更高精度迈进。

泓川科技白光干涉测厚仪:精准测量透明薄膜/镀膜厚度的黑科技


(三)汽车制造:品质保障的幕后英雄

汽车的高品质背后,离不开白光干涉测厚仪的默默支持。车漆厚度不仅关乎美观,还影响着防腐性能;车身镀层厚度决定了零部件的耐用程度;发动机缸体、活塞等关键零部件的表面粗糙度与尺寸精度,更是与汽车的动力输出、燃油经济性紧密相连。在汽车生产线上,测厚仪高速、精准地对各种部件进行测量,确保每一辆下线的汽车都具备可靠的性能与持久的品质,成为汽车驰骋道路的坚实保障。

泓川科技白光干涉测厚仪:精准测量透明薄膜/镀膜厚度的黑科技


(四)生物医学:微观世界的精准洞察

在生物医学的微观领域,白光干涉测厚仪发挥着独特作用。在细胞研究中,测量细胞培养皿涂层厚度,为细胞生长营造适宜环境;对于生物组织切片,精确测定组织各层厚度,辅助疾病诊断;在药物研发环节,对药物缓释涂层、微胶囊壁材厚度的精准把控,确保药物释放的稳定性与有效性,为医学科研与临床应用提供关键数据支持,助力人类健康事业不断前行。

泓川科技白光干涉测厚仪:精准测量透明薄膜/镀膜厚度的黑科技


与进口品牌对比:性价比之光

在市场上,进口品牌的白光干涉测厚仪往往价格高昂,让许多预算有限的企业和科研单位望而却步。一台进口的高端白光干涉测厚仪,价格动辄数十万元,甚至更高,这还不包括后续的配件更换、维修保养等费用。而且,进口仪器的配件供应周期通常较长,一旦出现故障,等待配件的时间可能会耽误大量的生产或科研进程。

与之相比,国产白光干涉测厚仪在保证性能不逊色的前提下,具有显著的价格优势。以我们的产品为例,其价格仅为同级别进口仪器的一半甚至更低,大大降低了企业的采购成本。在配件方面,国产仪器的通用性强,价格亲民,能够随时满足用户的更换需求。售后维修服务也更加及时、便捷,国内的技术团队能够快速响应,为用户提供上门维修、技术指导等全方位支持,确保仪器的正常运行,减少停机时间,进一步为用户节省成本,让用户用得省心、放心。

结语:开启精准测厚新篇章

白光干涉测厚仪以其卓越的测量原理、显著的优势、广泛的应用场景以及突出的性价比,成为现代工业与科研领域不可或缺的精密测量工具。它宛如一位智慧的工匠,用纳米级的精度雕琢着每一个细微之处,为众多行业的发展保驾护航。

随着科技的不断进步,我们相信白光干涉测厚仪将在更多领域绽放光芒,不断突破测量极限,为人类探索微观世界、打造高品质产品提供更强大的支持。如果您正在为材料厚度测量的精准度、效率而烦恼,不妨考虑这款神器,开启您的精准测厚新篇章。如需了解更多产品信息、技术细节,欢迎随时联系我们,专业团队将竭诚为您服务。

 


News / 推荐阅读 +More
2025 - 09 - 05
点击次数: 12
高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计,精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点:精度卓越:±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度,确保测量数据稳定可靠;量程适配:覆盖 10μm2mm 测厚范围,满足多数半导体材料检测需求;高效高速:40kHz 采样速度,快速捕捉厚度数据,适配在线检测节奏;灵活适配:宽范围工作距离设计,可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器:半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦...
2025 - 09 - 02
点击次数: 30
泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如下表所示:表 1:LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算(*1)量程200mm-重复精度(静态)3μm测量标准白色陶瓷样件,50kHz 无平均,取 65536 组数据均方根偏差(*2)线性度±0.03%F.S.(F.S.=200mm)采用纳米级激光干涉仪标定(*3)光源与光斑光源类型-激光功率可定制,部分型号提供 4...
2025 - 08 - 30
点击次数: 14
泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器,32KHz 高速采样引领工业高精度测量革新近日,工业高精度测量领域迎来技术突破 —— 泓川科技正式推出LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦传感器控制器(含单通道 LT-CPS、双通道 LT-CPD、四通道 LT-CPF 三款型号,含普通光源与高亮激光光源版本)。该系列产品以 “32KHz 高速采样” 与 “ETHERCAT 工业总线” 为核心亮点,填补了行业内 “高频响应 + 实时协同” 兼具的技术空白,为新能源、半导体、汽车制造等高端领域的动态高精度测量需求提供了全新解决方案。一、核心突破:32KHz 高速采样,破解 “多通道降速” 行业痛点光谱共焦技术的核心竞争力在于 “高精度” 与 “响应速度” 的平衡,而 LT-CP 系列在速度维度实现了关键突破 ——单通道模式下最高采样频率达 32KHz,意味着...
2025 - 08 - 12
点击次数: 32
在半导体芯片制造、精密电子组装等高端工业场景中,一个棘手的矛盾始终存在:一方面,设备内部空间日益紧凑,毫米级的安装高度都可能成为 “禁区”;另一方面,随着产品结构复杂化,对测量量程的需求不断提升,5mm 以上的大量程检测已成为常态。如何在狭小空间内实现大量程精密测量?无锡泓川科技给出了突破性答案 ——光学转折镜,以创新设计让光谱共焦传感器的测量方向 “直角转向”,既节省安装空间,又兼容大量程需求,重新定义精密测量的空间可能性。传统方案的痛点:空间与量程难以两全在精密测量领域,侧出光传感器曾是狭小空间的 “救星”。泓川科技旗下 LTCR 系列作为 90° 侧向出光型号,凭借紧凑设计广泛应用于深孔、内壁等特征测量。但受限于结构设计,其量程多集中在 2.5mm 以内(如 LTCR4000 量程为 ±2mm),难以满足半导体晶圆厚度、大型精密构件高度差等大量程场景的需求。若选择...
2025 - 06 - 22
点击次数: 92
一、国产化背景与战略意义在全球供应链竞争加剧的背景下,激光位移传感器作为工业自动化核心测量部件,其国产化生产对打破技术垄断、保障产业链安全具有重要战略意义。泓川科技 LTP 系列依托国内完整的光学、电子、机械产业链体系,实现了从核心零部件到整机制造的全流程国产化,彻底解决了接口卡脖子问题,产品精度与稳定性达到国际先进水平,同时具备更强的成本竞争力与定制化服务能力。二、核心部件全国产化组成体系(一)光学系统组件激光发射单元激光二极管:采用深圳镭尔特光电 655nm 红光 PLD650 系列(功率 0.5-4.9mW)及埃赛力达 905nm 红外三腔脉冲激光二极管,支持准直快轴压缩技术,波长稳定性 ±0.1nm,满足工业级高稳定性需求。准直透镜:选用杭州秋籁科技 KEWLAB CL-UV 系列,表面粗糙度 光学滤光片:深圳激埃特光电定制窄带滤光片,红外截止率 99.9%,有效消除环...
About Us
关于泓川科技
专业从事激光位移传感器,激光焊缝跟踪系统研发及销售的科技公司
中国 · 无锡 · 总部地址:无锡新吴区天山路6号
销售热线:0510-88155119 
图文传真:0510-88152650
Working Time
我们的工作时间
周一至周五:8:00-18:00
周六至周日:9:00-15:00
Shown 企业秀 More
  • 1
    2023 - 03 - 09
    激光位移传感器被广泛应用于各种领域中。其中一个很有用的应用是测量薄膜厚度。这种传感器可以在离表面很近的距离下进行高精度测量,因此非常适合这种应用。本文将介绍激光位移传感器如何用于测量薄膜厚度,包括测量方法、测量原理和市场应用。一、测量方法测量薄膜厚度的基本思路是利用激光位移传感器测量薄膜前后表面的距离差,然后通过几何公式计算出薄膜厚度。在实际操作中,测量方法大致可分为以下几种:1. 手持式测量手持式测量通常用于快速的现场检测。用户只需要将激光位移传感器靠近待测表面,然后通过读取显示屏上的数值判断薄膜厚度是否符合要求。这种方法不需要复杂的设备和步骤,非常易于使用。但是由于人手的震动和误差等因素,手持式测量的精度相对较低,只适用于需求不是特别高的场合。2. 自动化在线测量自动化在线测量一般用于工业生产线上的质量控制。这种方法需要将激光位移传感器与自动化设备相连接,将测量数据传递给计算机进行分析。在这种情况下,测量过程可以完全自动化,精度也可以得到保证。但是相对于手持式测量来说,这种方法需要的设备和技术要求更高,成本也更高。3. 显微镜下测量显微镜下测量常用于对细小薄膜厚度的测量。在这种情况下,用户需要将激光位移传感器与显微镜相结合进行测量。由于显微镜的存在,可以大大增强测量精度。但是相对于其他两种方法,这种方法需要的设备更多,并且技巧要求也更高。二、测量原理激光位移传感器利用的是激光三...
  • 2
    2025 - 01 - 14
    四、光学传感器应用对薄膜涂布生产的影响4.1 提升生产效率4.1.1 实时监测与反馈在薄膜涂布生产的复杂乐章中,光学传感器实时监测与反馈机制宛如精准的指挥棒,引领着生产的节奏。凭借其卓越的高速数据采集能力,光学传感器能够如同闪电般迅速捕捉涂布过程中的关键参数变化。在高速涂布生产线以每分钟数百米的速度运行时,传感器能够在瞬间采集到薄膜厚度、涂布速度、位置偏差等数据,为生产过程的实时监控提供了坚实的数据基础。这些采集到的数据如同及时的情报,被迅速传输至控制系统。控制系统则如同智慧的大脑,对这些数据进行深入分析。一旦发现参数偏离预设的理想范围,控制系统会立即发出指令,如同指挥官下达作战命令,对涂布设备的相关参数进行精准调整。当检测到薄膜厚度略微超出标准时,控制系统会迅速调整涂布头的压力,使涂布量精确减少,确保薄膜厚度回归正常范围。这种实时监测与反馈机制的存在,使得生产过程能够始终保持在最佳状态。它避免了因参数失控而导致的生产中断和产品质量问题,如同为生产线安装了一个智能的 “稳定器”。与传统的生产方式相比,生产调整的时间大幅缩短,从过去的数小时甚至数天,缩短至现在的几分钟甚至几秒钟,极大地提高了生产效率。4.1.2 减少停机时间在薄膜涂布生产的漫长旅程中,设备故障和产品质量问题如同隐藏在道路上的绊脚石,可能导致停机时间的增加,严重影响生产效率。而光学传感器的实时监测功能,就像一位警惕的卫...
  • 3
    2023 - 08 - 21
    摘要:基膜厚度是许多工业领域中重要的参数,特别是在薄膜涂覆和半导体制造等领域。本报告提出了一种基于高精度光谱感测的基膜厚度测量方案,该方案采用非接触测量技术,具有高重复性精度要求和不损伤产品表面的优势。通过详细的方案设计、设备选择和实验验证,展示了如何实现基膜厚度的准确测量,并最终提高生产效率。引言基膜厚度的精确测量对于许多行业来说至关重要。传统测量方法中的接触式测量存在损伤产品表面和对射测量不准确的问题。相比之下,高精度光谱感测技术具有非接触、高重复性和高精度的优势,因此成为了基膜厚度测量的理想方案。方案设计基于高精度光谱感测的基膜厚度测量方案设计如下:2.1 设备选择选择一台高精度光谱感测仪器,具备以下特点:微米级或亚微米级分辨率:满足对基膜厚度的高精度要求。宽波长范围:覆盖整个感兴趣的波长范围。快速采集速度:能够快速获取数据,提高生产效率。稳定性和重复性好:确保测量结果的准确性和可靠性。2.2 光谱感测技术采用反射式光谱感测技术,原理如下:在感测仪器中,发射一个宽光谱的光源,照射到待测样品表面。根据不同厚度的基膜对光的反射率不同,形成一个光谱反射率图像。通过对反射率图像的分析和处理,可以确定基膜的厚度。2.3 实验设计设计实验验证基膜厚度测量方案的准确性和重复性。选择一系列已知厚度的基膜作为标准样品。使用高精度光谱感测仪器对标准样品进行测量,并记录测量结果。重复多次测量,并计...
  • 4
    2023 - 12 - 23
    摘要:圆筒内壁的检测在工业生产中具有重要意义,传统方法存在诸多问题。本文介绍了一种新型的检测系统,该系统结合了改进的激光三角测距法和机器视觉技术,旨在解决传统方法的不足。新方法可以在高温环境下工作,对小径圆筒进行测量,且测量精度高、速度快。通过实验验证,该系统能够实现圆筒内壁的高质量、高速度的在线检测,为现代工业生产提供了有力支持。关键词:圆筒内壁检测;机器视觉;激光三角测距法;在线检测引言圆筒内壁检测是工业生产中的重要环节,其质量直接关系到产品的性能和使用寿命。传统的检测方法存在诸多问题,如检测精度不高、速度慢、无法在线检测等。为了解决这些问题,本文提出了一种新型的检测系统,该系统结合了改进的激光三角测距法和机器视觉技术,旨在实现圆筒内壁的高质量、高速度的在线检测。工作原理本系统采用激光三角测距法作为主要测量手段。激光三角测距法是一种非接触式测量方法,通过激光投射到被测物体表面并反射回来,再通过传感器接收,经过处理后可以得到被测物体的距离和尺寸信息。本系统对传统的激光三角测距法进行了改进,使其能够在高温环境下工作,并对小径圆筒进行测量。同时,本系统还采用了机器视觉技术进行辅助测量和判断。机器视觉技术是通过计算机模拟人类的视觉功能,实现对图像的采集、处理和分析。本系统利用机器视觉技术对圆筒内壁表面进行图像采集和处理,通过算法识别和判断内壁表面的缺陷和尺寸信息。通过将激光三角测距法和...
  • 5
    2025 - 03 - 05
    在工业自动化领域,激光位移传感器是精密测量的核心器件。本文以国产泓川科技的LTP150与基恩士的LK-G150为对比对象,从核心技术参数、功能设计及性价比等维度,解析国产传感器的创新突破与本土化优势。一、核心参数对比:性能旗鼓相当,国产线性度更优精度与稳定性LTP150的线性度为±0.02%F.S.,优于LK-G150的±0.05%F.S.,表明其全量程范围内的测量一致性更佳。重复精度方面,LK-G150(0.5μm)略高于LTP150(1.2μm),但需注意LK-G150数据基于4096次平均化处理,而LTP150在无平均条件下的65536次采样仍保持1.2μm偏差,实际动态场景下稳定性更可靠。采样频率与响应速度LTP150支持50kHz全量程采样,并可扩展至160kHz(量程缩小至20%),远超LK-G150的1kHz上限。高频采样能力使其在高速生产线(如电池极片、半导体晶圆检测)中可捕捉更多细节,避免数据遗漏。环境适应性两者均具备IP67防护与抗振设计,但LTP150可选**-40°C至70°C宽温版本**,覆盖极寒或高温车间环境,而LK-G150仅支持050°C,适用场景受限。以下是 LTP150(泓川科技) 与 LK-G150(基恩士) 激光位移传感器的核心参数对比表格,重点突出国产...
  • 6
    2025 - 01 - 14
    一、引言1.1 研究背景与意义在工业制造、科研等众多领域,精密测量技术如同基石,支撑着产品质量的提升与科学研究的深入。光谱共焦传感器作为精密测量领域的关键技术,正以其独特的优势,在诸多行业中发挥着无可替代的作用。它能精确测量物体的位移、厚度、表面轮廓等参数,为生产过程的精确控制与产品质量的严格把控提供了关键数据支持。基恩士作为传感器领域的佼佼者,其推出的光谱共焦传感器在市场上备受瞩目。基恩士光谱共焦传感器凭借卓越的性能,如高精度、高稳定性、快速响应等,在精密测量领域中脱颖而出。在半导体制造过程中,芯片的生产对精度要求极高,基恩士光谱共焦传感器可精准测量芯片的厚度、线宽等关键参数,保障芯片的性能与质量。在光学元件制造领域,其能够精确测量透镜的曲率、厚度等参数,助力生产出高质量的光学元件。研究基恩士光谱共焦传感器,对于推动精密测量技术的发展具有重要意义。通过深入剖析其原理、结构、性能以及应用案例,能够为相关领域的技术创新提供参考,促进测量技术的不断进步。在实际应用中,有助于用户更合理地选择和使用该传感器,提高生产效率,降低生产成本。在汽车制造中,利用基恩士光谱共焦传感器对零部件进行精密测量,可优化生产流程,减少废品率。 1.2 研究现状在国外,光谱共焦传感器的研究起步较早,技术也相对成熟。法国的STIL公司作为光谱共焦传感器的发明者,一直处于该领域的技术前沿。其研发的光谱共焦...
  • 7
    2025 - 02 - 19
    一、测量原理与技术框架高精度激光位移传感器实现1μm以下精度的核心在于三角测量法的深度优化。如图1所示,当激光束投射到被测表面时,散射光斑经接收透镜在CMOS/CCD阵列上形成位移图像。根据几何关系:\Delta x = \frac{L \cdot \sinθ}{M \cdot \cos(α±θ)}Δx=M⋅cos(α±θ)L⋅sinθ其中L为基距,θ为接收角,M为放大倍数。要实现亚微米分辨率需突破传统三角法的三个技术瓶颈:光斑质量退化、环境噪声干扰、信号处理延迟。二、关键算法突破1. 光斑中心定位算法采用改进型高斯混合模型(GMM)结合小波变换降噪,可有效抑制散斑噪声。研究显示[1],基于Marr小波的边缘检测算法可使定位精度提升至0.12像素(对应0.05μm)。2. 动态补偿算法LTP系列采用专利技术(CN202310456789.1)中的自适应卡尔曼滤波:PYTHONclass AdaptiveKalman:    def update(self, z):        # 实时调整过程噪声协方差Q        se...
  • 8
    2023 - 03 - 20
    介绍工业光电传感器是现代制造业中最常用的检测设备之一,广泛应用于自动化生产线、机械加工、装配、物流搬运等行业。随着国民经济的不断发展,中国的工业光电传感器制造业也不断发展壮大,成为制造业的一支重要力量。本文旨在对中国产的工业光电传感器现状进行描述。发展历史20世纪80年代初期,我国的工业自动化程度比较低,大部分生产线仍采用人力操作,制造业存在高人力成本、低效率、品质难以保证等问题。为了提高制造业的效率和品质,中国开始引入外国的工业自动化设备,其中就包括工业光电传感器。80年代中后期,国内开始试水制造工业光电传感器,并逐步发展壮大。90年代初期,随着国民经济的增长和工业自动化的加速推进,中国的工业光电传感器制造业进入快速发展期。如今,中国的工业光电传感器制造业已经处于全球领先地位,成为世界闻名的光电传感器生产基地之一。产业链分析商业模式中国的工业光电传感器制造业商业模式主要是以生产销售为主,较少采用研发生产销售一体化模式。生产企业主要供应给自动化设备制造商,然后这些自动化设备制造商销售给最终用户,最终用户则使用这些设备来自动化生产线。除此之外,还有一些企业将工业光电传感器产品应用到自己的设备制造中,以提高自己产品的品质和效率,然后再将自己的产品销售给最终用户。在商业模式上,中国的工业光电传感器制造业与欧美等发达国家还存在一定的差距。技术研发中国的工业光电传感器制造业在技术研发方面逐渐...
Message 最新动态
泓川科技国产系列光谱共焦/激光位移传感器/白光干涉测厚产品性能一览 2025 - 09 - 05 高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计,精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点:精度卓越:±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度,确保测量数据稳定可靠;量程适配:覆盖 10μm2mm 测厚范围,满足多数半导体材料检测需求;高效高速:40kHz 采样速度,快速捕捉厚度数据,适配在线检测节奏;灵活适配:宽范围工作距离设计,可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器:半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途:针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景,提供高速实时对焦支持,尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点:对焦速度快:50kHz 高速对焦,同步匹配缺陷检测的实时性需求;对焦精度高:0.5μm 对焦精度,保障缺陷成像清晰、检测无偏差;设计灵活:分体式结构,可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整,降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪:极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途:专注于极薄膜...
多方面研究泓川科技LTP系列大量程全国产激光位移传感器 2025 - 09 - 02 泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如下表所示:表 1:LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算(*1)量程200mm-重复精度(静态)3μm测量标准白色陶瓷样件,50kHz 无平均,取 65536 组数据均方根偏差(*2)线性度±0.03%F.S.(F.S.=200mm)采用纳米级激光干涉仪标定(*3)光源与光斑光源类型-激光功率可定制,部分型号提供 405nm 蓝光版本(*4)光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径,两端相对变大(*5)电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出(选配)电压:0-5V/010V/-1010V;电流:420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出(*6)通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块(*7)响应...
泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器,32KHz 高速采样引领工业... 2025 - 08 - 30 泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器,32KHz 高速采样引领工业高精度测量革新近日,工业高精度测量领域迎来技术突破 —— 泓川科技正式推出LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦传感器控制器(含单通道 LT-CPS、双通道 LT-CPD、四通道 LT-CPF 三款型号,含普通光源与高亮激光光源版本)。该系列产品以 “32KHz 高速采样” 与 “ETHERCAT 工业总线” 为核心亮点,填补了行业内 “高频响应 + 实时协同” 兼具的技术空白,为新能源、半导体、汽车制造等高端领域的动态高精度测量需求提供了全新解决方案。一、核心突破:32KHz 高速采样,破解 “多通道降速” 行业痛点光谱共焦技术的核心竞争力在于 “高精度” 与 “响应速度” 的平衡,而 LT-CP 系列在速度维度实现了关键突破 ——单通道模式下最高采样频率达 32KHz,意味着每秒可完成 32000 次精准距离 / 厚度测量,相当于对动态移动的被测物体(如高速传输的电池极片、晶圆)实现 “无遗漏” 的高频捕捉,测量分辨率与动态响应能力远超行业常规 10-20KHz 级别控制器。更具稀缺性的是,该系列打破了 “多通道即降速” 的传统局限:即使在双通道模式(最高 16KHz)、四通道模式(最高 8KHz)下,仍保持高频响应的稳定性。以四通道 LT-CPF 为例,其每通道 8...
Copyright ©2005 - 2013 无锡泓川科技有限公司

1

犀牛云提供企业云服务
Our Link
X
3

SKYPE 设置

4

阿里旺旺设置

等待加载动态数据...

等待加载动态数据...

5

电话号码管理

  • 0510-88155119
6

二维码管理

等待加载动态数据...

等待加载动态数据...

展开