行业困局:透明膜测厚为何成为制造升级的“卡脖子”环节?
在高端光学膜、柔性电子等领域,12.5μm FEP膜与8-10μm UV胶层的叠层结构是产品性能的核心保障。然而,传统检测手段却陷入三重困境:
精度之殇:千分尺测量误差达±1μm,无法满足超薄叠层管控需求;
效率瓶颈:接触式测量导致膜面损伤,离线抽检拖慢产线节奏;
信号干扰:多层透明膜反射光叠加,光学传感器误判率超15%。

泓川科技破局之道:三大技术革新定义行业新标杆
革新1:白光干涉光谱技术——穿透多层膜的“透视眼”
革新2:工业级智能探头——高速产线的“隐形卫士”
非接触设计:5-10mm宽域工作距离,规避机械碰撞风险;
抗干扰内核:弥散光斑(直径4mm)覆盖膜面微区,消除局部缺陷干扰;
极速响应:10kHz采样频率适配1.5m/s产线速度,较传统激光方案提速200%。
革新3:全链路数字化——从测量到控制的“闭环革命”

实战验证:某国际光学膜巨头产线改造全记录
改造前痛点
泓川方案落地


客户声音:一场由精度引发的产业变革
“泓川传感器不仅解决了测厚难题,更让我们首次实现了涂布工艺的实时闭环控制。仅3个月,产品良率就从92%跃升至98.7%!”
——某全球光学膜领军企业技术负责人
跨界赋能:纳米级测厚技术的无限可能
基于HT-T系列的模块化设计,该方案已成功拓展至:
新能源领域:锂电池隔膜(4层结构,总厚≤20μm)的叠加检测;
半导体封装:ABF薄膜(5-15μm)的缺陷与厚度同步监控;
生物医疗:血管支架涂层(PEEK+药物层,总厚10μm±0.5μm)的精准管控。
为何选择泓川?
立即开启精度革命:
以纳米之名,重新定义工业检测极限!
泓川科技——让不可见之微,成就不可撼动之质