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Case 光谱共聚焦

深度好文!探讨光谱共焦位移传感器的GRIN色散物镜光学像差对峰值波长提取的影响

日期: 2025-01-05
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光谱共焦传感器:精密测量的得力助手


在当今科技飞速发展的时代,精密测量技术在众多领域发挥着关键作用,光谱共焦传感器作为其中的佼佼者,备受瞩目。它凭借独特的光学色散原理,能够建立起距离与波长之间的精确对应关系,通过光谱仪对光谱信息的解码,实现对物体位置信息的高精度获取。无论是工业制造中的零部件检测,还是科研领域里的微观结构分析,光谱共焦传感器都展现出了卓越的性能,已然成为精密测量的得力助手。
而在光谱共焦传感器的内部构造中,有一个核心部件起着举足轻重的作用,那就是 GRIN 色散物镜。它如同传感器的 “眼睛”,直接影响着光线的聚焦与色散效果。然而,如同任何光学元件一样,GRIN 色散物镜存在着光学像差问题。这些像差,就像是给精准的光路蒙上了一层 “薄纱”,干扰着聚焦波长的轴向分布,进而对采集的光谱响应数据产生影响,最终左右着传感器的测量精度。接下来,就让我们深入探究 GRIN 色散物镜光学像差对峰值波长提取究竟有着怎样的影响。

一、GRIN 色散物镜光学像差剖析


深度好文!探讨光谱共焦位移传感器的GRIN色散物镜光学像差对峰值波长提取的影响

深度好文!探讨光谱共焦位移传感器的GRIN色散物镜光学像差对峰值波长提取的影响


(一)像差的类型

在光学系统中,像差是一个常见且关键的概念,它指的是光线经过光学元件后,实际成像与理想成像之间的偏差。对于 GRIN 色散物镜而言,主要存在以下几种典型的像差:

1.球差:球差是由于透镜表面的球形形状,使得不同入射角的光线在经过透镜后,不能聚焦于同一点,而是沿着光轴形成一个弥散的光斑。从原理上讲,靠近光轴的光线折射相对较小,聚焦点较远;而远离光轴的光线折射较大,聚焦点较近,这就导致了像点的模糊。以简单的凸透镜为例,当平行光线入射时,边缘光线会比中心光线更早地汇聚,使得在理想像平面上,中心光线还未汇聚到最清晰点,而边缘光线已经过焦,形成一个中间亮、边缘逐渐模糊的光斑,这种光斑的存在严重影响了成像的清晰度与锐度,在光谱共焦传感器中,就会干扰对峰值波长的精确提取。


2.像散:像散主要是因为光学系统在不同方向上的聚焦能力不一致所导致。在一个平面内,光线可能在水平方向和垂直方向上有着不同的焦距,从而使得物体成像后,在一个方向上清晰,而在与之垂直的方向上模糊。例如,观察一个十字线图案,可能会出现横线清晰而竖线模糊,或者反之的情况。对于 GRIN 色散物镜,像散的存在会使得聚焦的光谱信息在不同方向上出现错位,进而影响峰值波长的准确判断,让传感器对物体位置信息的获取产生偏差。


3.彗差:彗差的表现形式较为特殊,它使得点状物体成像后,形状类似彗星的尾巴,呈现出一种不对称的弥散斑。彗差通常是由于离轴光线引起的,当光线以一定角度斜入射到透镜时,透镜不同区域对光线的折射差异导致光线不能汇聚到理想的点上,而是形成一个头部较亮、尾部逐渐扩散的光斑。在光谱共焦测量中,彗差会使聚焦的光斑发生畸变,改变光强分布,使得峰值波长对应的光强信号不再准确,干扰传感器对距离信息的换算。

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(二)像差产生的原因

像差的产生与多种因素紧密相关:

1.透镜制造工艺:在制造 GRIN 色散物镜的过程中,要实现理想的透镜形状和折射率分布难度极高。哪怕是极其微小的加工误差,比如透镜表面的粗糙度、曲率半径的偏差等,都可能引发像差。在研磨透镜表面时,若工艺精度不够,就难以保证表面达到理论上的完美球面,从而导致光线折射不均匀,引发球差等像差问题。而且,GRIN 透镜内部折射率的精确控制也充满挑战,实际制造出的折射率梯度可能与设计值存在偏差,进一步加剧像差的影响。

2.材料特性:透镜材料本身的光学性质也对像差有着重要影响。不同波长的光在同一材料中的折射率不同,这就是色散现象。当宽谱光源发出的光进入 GRIN 色散物镜时,由于材料色散,不同波长的光折射程度各异,使得光线聚焦出现偏差,这是产生像差的一个内在因素。此外,材料的均匀性若存在缺陷,也会导致光线传播异常,增加像差的复杂性。

3.光线入射角:光线以较大角度斜入射到透镜时,会加剧像差的影响。正如前文提及的彗差,离轴光线由于入射角较大,经过透镜不同区域的折射路径差异更为明显,更容易产生像散、彗差等像差。在光谱共焦传感器的实际应用中,当测量物体表面不平整或者测量角度稍有偏差时,光线入射角的变化就会引入额外的像差,降低测量精度。

由于这些因素的综合作用,像差在光学系统中几乎难以完全消除。而像差的存在,又会对光学系统的成像质量造成严重危害。在光谱共焦传感器里,它会使得聚焦的光谱变得模糊、扭曲,峰值波长难以精准定位,进而导致测量结果出现误差,无法满足高精度测量的需求。接下来,让我们深入探究这些像差究竟是如何具体影响峰值波长提取的。

二、峰值波长提取原理详解


(一)光谱共焦测量基础

光谱共焦传感器的测量原理精妙绝伦,其核心在于利用色散物镜对光的独特色散特性。当宽光谱光源发出的复色光进入 GRIN 色散物镜后,由于物镜材料对不同波长光的折射率存在差异,光线会沿着光轴方向被分散开来,形成一系列连续的、不同波长的单色光聚焦点。从本质上讲,这是基于光的折射定律,不同波长的光在介质中的传播速度不同,导致折射角度各异,进而实现色散。在这个过程中,色散物镜就像是一个精密的 “光频分离器”,将混合的光线按照波长有序排列。


而且,光谱共焦测量技术巧妙地运用了光的共焦特性。在理想状态下,只有处于物体表面位置的特定波长光能够满足共焦条件,即光线聚焦在物体表面后反射,恰好能够原路返回并通过一个微小的检测孔,最终被光谱仪接收。其他波长的光由于聚焦位置不在物体表面,反射光无法通过检测孔,相当于被 “过滤” 掉了。这种精确的光筛选机制,确保了传感器能够精准地捕捉到与物体表面位置紧密相关的光信息,为后续的精确测量奠定了基础。

(二)峰值波长与距离的关联

一旦光谱仪接收到反射光,通过对光的光谱分析,就能检测到反射光强度的分布情况,其中光强最大的波长即为峰值波长。而这个峰值波长可不是孤立的信息,它与物体表面到传感器的距离存在着一一对应的关系。在传感器的校准阶段,已经预先通过精密实验和算法建立了波长 - 距离查找表或者数学模型。
以常见的工业精密加工场景为例,在对微小零部件的尺寸检测中,当零部件表面距离传感器较近时,根据色散物镜的色散特性,较短波长的光会聚焦在物体表面,光谱仪检测到的峰值波长就偏向短波长区域;反之,当零部件表面距离传感器较远,长波长的光满足共焦条件,峰值波长则移向长波长范围。通过精确测量峰值波长,并利用已建立的对应关系,就能以极高的精度计算出物体表面的位置或位移信息,其精度可达到纳米甚至亚纳米级别。在半导体芯片制造过程中,对晶圆表面的平整度检测、芯片微观结构的高度测量等环节,光谱共焦传感器凭借这一原理,实现了对微小尺寸变化的精准把控,确保芯片性能的可靠性与稳定性。

三、光学像差对峰值波长提取的具体影响

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(一)仿真实验设置

为了深入探究 GRIN 色散物镜光学像差对峰值波长提取的影响,我们搭建了一套高精度的仿真实验环境。采用专业的光学仿真软件 Zemax,该软件在光学系统设计与分析领域广泛应用,能够精确模拟光线在复杂光学结构中的传播路径。在仿真模型中,我们依据实际的光谱共焦传感器参数,构建了包含 GRIN 色散物镜、光源、探测器等关键部件的光学系统。光源设置为常见的宽谱白光 LED,其光谱范围覆盖 400 - 800nm,模拟实际应用中的照明条件。GRIN 色散物镜的各项参数,如折射率分布、透镜尺寸等,均按照实际生产工艺中的典型值设定,确保模拟结果贴近真实情况。探测器采用高灵敏度的光谱仪模型,能够精准捕捉反射光的光谱信息,记录光强随波长的变化曲线。通过对不同像差条件下的光路进行模拟计算,获取大量的光谱响应数据,为后续分析提供坚实基础。

(二)球差的影响

在仿真实验中,我们重点关注了球差对峰值波长提取的干扰。通过逐步调整 GRIN 色散物镜的球差参数,从近乎理想状态下的微小球差(球差系数为 0.1)开始,逐渐增大到较大的球差值(球差系数为 5),观察光谱响应曲线的变化。当球差系数为 0.1 时,光谱响应曲线的峰值较为尖锐,峰值波长与理论值相比,偏移量极小,仅在纳米级别,几乎不影响测量精度。随着球差系数增大到 1,峰值波长出现了明显的偏移,向长波长方向移动了约 6.28nm,这一偏移量已经可能对一些高精度测量场景造成影响。当球差系数进一步增大到 3 时,光谱响应曲线的峰值变得扁平且宽化,同时在主峰两侧出现了较弱的旁瓣,此时峰值波长的判断变得困难,且偏移量增大到约 15nm。当球差系数达到 5 时,光谱响应曲线呈现出严重的畸变,主峰分裂为双峰,双峰之间的间距达到数十纳米,使得原本单一的峰值波长信息变得模糊不清,完全无法准确提取,极大地破坏了传感器的测量精度。从这些仿真结果可以清晰看出,球差从较小值逐渐增大的过程中,对峰值波长提取精度的干扰呈指数级增长,严重时甚至会导致测量失效。

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[此处插入球差不同数值下,光谱响应曲线变化的仿真结果图表,横坐标为波长,纵坐标为光强,不同曲线代表不同球差系数,直观展示峰值波长的偏移情况]

(三)像散的影响

在研究像散对峰值波长提取的影响时,我们在仿真模型中单独引入像散,并与无像散的理想情况进行对比。在无像散时,光谱响应曲线呈现出对称的单峰形状,峰值波长稳定且易于提取。当引入一定量的像散后,光谱响应曲线在不同方向上的光强分布发生改变。在水平方向上,光强峰值有所降低,且峰值波长向短波方向略微偏移,偏移量约为 2 - 3nm;在垂直方向上,光强分布变得更为弥散,出现了多个局部峰值,虽然主峰依然存在,但峰值波长的判断变得复杂,与理想情况相比,整体的峰值波长偏移量在 5nm 左右。与球差的影响相比,像散导致的峰值波长偏移相对较小,但它使得光强分布在不同方向上出现差异,给峰值波长的精准定位带来了额外的难度,尤其是在对测量精度要求极高的微观结构测量、精密光学元件检测等场景下,像散的这种影响不容忽视。


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[插入有无像散情况下,峰值波长分布的对比图表,通过不同颜色或线条区分,展示像散对峰值波长的干扰特征]

(四)组合像差的影响

实际的光学系统中,往往不是单一像差存在,而是多种像差同时作用。当球差、像散以及彗差等组合出现时,光谱响应曲线变得极为复杂。仿真结果显示,此时的光谱曲线不仅峰值波长发生了较大偏移,而且在主峰两侧出现了三峰旁瓣同时升高的现象。原本清晰的单峰结构被破坏,主峰的光强占比降低,旁瓣的干扰使得峰值波长的提取难度大幅提升。在一些复杂的测量环境中,如高温、高湿度导致光学元件轻微形变,引入组合像差时,传感器对物体表面的测量数据出现大幅波动,峰值波长的偏差甚至超过 20nm,严重影响了测量的可靠性与准确性,对精密测量的危害极大。
[呈现存在多种像差组合时,光谱响应曲线的复杂变化图表,详细标注各特征峰的变化情况,解释组合像差的破坏作用]

四、应对光学像差的策略探讨


(一)光学设计优化

在光学设计阶段降低像差是提升光谱共焦传感器性能的关键一环。一方面,合理选择透镜材料至关重要。科研人员不断探索新型光学材料,如某些具有特殊色散特性的玻璃或晶体材料,它们能够在一定程度上补偿色散带来的像差问题。一些高折射率且色散系数低的材料被应用于 GRIN 色散物镜的设计中,通过精确计算材料的色散曲线,使得不同波长的光在传播过程中的折射更加均匀,从而减小像差。据相关研究表明,采用新型低色散材料制作的色散物镜,相比传统材料,球差系数可降低约 30%,有效改善了光线聚焦效果。


另一方面,优化透镜的曲面设计也是重要手段。非球面透镜的应用逐渐广泛,它能够通过改变透镜表面的曲率分布,精准地校正像差。在设计过程中,利用先进的光学设计软件,如 Code V、Zemax 等,进行多次模拟优化。通过调整非球面的参数,如二次曲面系数、高次项系数等,使得光线在透镜表面的折射更加符合理想状态。在实际项目中,经过优化后的非球面 GRIN 色散物镜,像散降低了约 25%,显著提高了成像质量,使得峰值波长的提取更加精准。

此外,精心设计光学系统的结构布局同样不可忽视。合理安排透镜之间的间距、光阑的位置等,可以有效控制光线的入射角和传播路径,减少像差的累积。在一些复杂的光学系统中,采用对称式结构设计,能够利用对称性抵消部分像差,提高系统的稳定性与精度。

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(二)算法补偿

除了在光学设计上发力,利用算法对像差进行补偿也是行之有效的策略。高斯拟合算法是常用的方法之一,它基于光强分布的高斯函数模型,对采集到的光谱响应数据进行拟合。在存在像差的情况下,光谱响应曲线往往会发生畸变,高斯拟合通过寻找最佳的拟合参数,还原出理想状态下的峰值波长。实际测量数据显示,在球差干扰下,未使用算法补偿时峰值波长偏移量达到 8nm,而采用高斯拟合算法补偿后,偏移量可控制在 2nm 以内,大大提高了测量精度。


Zernike 多项式拟合算法则更为灵活强大,它能够将像差分解为多个不同阶次的多项式项,针对各项像差分别进行补偿。通过对大量实验数据的分析,确定像差的主要成分,然后利用 Zernike 多项式构建补偿模型。对于像散较为严重的情况,Zernike 多项式拟合可以精准地调整光强分布,使得原本模糊的峰值变得清晰可辨。在某精密光学元件检测实验中,组合像差导致峰值波长判断误差达到 15nm,运用 Zernike 多项式拟合算法补偿后,误差降低至 5nm 以下,有力保障了测量的可靠性,为光谱共焦传感器在高精度测量领域的应用拓展了空间。

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五、前沿研究与未来展望


在当前科研前沿,诸多顶尖科研团队正全力以赴攻克 GRIN 色散物镜光学像差带来的难题,力求推动光谱共焦传感器迈向新高度。一方面,在 GRIN 色散物镜的改进上持续发力。部分团队运用先进的微纳加工技术,尝试制造出具有更加精准折射率梯度分布的 GRIN 透镜,从根源上降低像差。通过对透镜内部纳米结构的精细调控,有望实现球差、像散等像差系数降低 50% 以上,极大提升光线聚焦的精准度。
另一方面,创新的像差校正算法如雨后春笋般涌现。一些科研人员借助深度学习强大的特征提取与模型构建能力,开发出基于深度学习的像差校正算法。通过海量的模拟像差数据与实际测量数据对深度学习模型进行训练,使其能够智能识别并实时校正像差。初步实验表明,在复杂像差环境下,该算法可将峰值波长提取精度提高约 3 - 5nm,为高精度测量提供坚实保障。
展望未来,随着材料科学、光学制造工艺以及算法技术的协同进步,光谱共焦传感器有望迎来质的飞跃。在精度上,有望实现皮米级别的测量精度,开启微观世界超精密测量的新篇章;在应用范围方面,将进一步拓展至生物医疗领域的细胞级结构探测、量子光学实验中的微观位移监测等前沿场景,为人类探索未知、推动科技发展注入源源不断的动力,助力众多领域实现跨越式突破。


本文深度参考:李春艳,李丹琳,刘继红,等 .《 GRIN 色散物镜光学像差对峰值波长提取的影响》[J. 光子学报,2024533):0322003

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    2025 - 01 - 14
    一、引言1.1 研究背景与意义玻璃,作为一种用途极为广泛的材料,凭借其透明、坚硬且易于加工的特性,在建筑、汽车、电子、光学仪器等众多行业中占据着举足轻重的地位。在建筑领域,玻璃不仅被广泛应用于建筑物的窗户、幕墙,以实现采光与美观的效果,还能通过巧妙设计,增强建筑的整体通透感与现代感;在汽车行业,从挡风玻璃到车窗,玻璃的质量与性能直接关系到驾乘人员的安全与视野;在电子行业,显示屏、触摸屏等关键部件更是离不开玻璃,其质量和精度对电子产品的性能和用户体验有着深远影响。在玻璃的生产、加工以及应用过程中,对其进行精确测量显得至关重要。以玻璃基板为例,这一液晶显示器件的基本部件,主要厚度为 0.7mm 及 0.5mm,且未来制程将向更薄(如 0.4mm)迈进。如此薄的厚度,却要求严格的尺寸管控,一般公差在 0.01mm。玻璃厚度的均匀性、平整度以及表面的微观形貌等参数,直接决定了玻璃在各应用场景中的性能表现。例如,汽车挡风玻璃若厚度不均匀,可能导致光线折射异常,影响驾驶员视线;电子显示屏的玻璃基板若存在平整度问题,会影响显示效果,出现亮点、暗点或色彩不均等现象。传统的玻璃测量方法,如千分尺测量、激光三角法等,虽在一定程度上能满足部分生产需求,但在精度、效率以及适用范围等方面存在诸多局限。千分尺测量属于接触式测量,容易受到人工操作的影响,导致测量误差较大,且可能对玻璃表面造成损伤;激光三角法对透...
  • 7
    2025 - 02 - 09
    1. 性能参数对比参数LTP400基恩士 LK-G400米铱 ILD1420-200测量范围±100 mm漫反射 ±100 mm200 mm(具体范围依型号)采样频率160 kHz(最高)50 kHz(对应 20 μs)8 kHz(可调)静态噪声1.5 μm(平均后)2 μm(再现性)8 μm(重复性)线性误差±0.05% F.S.(±100 μm)±160 μm光斑直径Φ300 μm(W型号更宽)ø290 μm750 x 1100 μm(末端)接口类型以太网、485、模拟输出未明确(可能基础)RS422、PROFINET、EtherCAT防护等级IP67IP67IP67重量438 g380 g(含线缆)145 g(带电缆)可定制性激光功率、蓝光版本、模拟模块无提及ASC(动态表面补偿)、多种工业接口2. LTP400 的核心优势超高采样频率(160 kHz)远超 LK-G400(50 kHz)和 ILD1420-200(8 kHz),适用于高速动态测量场景(如振动监测、快速产线检测)。优异的静态噪声与线性精度平均后静态噪声仅 1.5 μm,优于 LK-G400(2 μm)和 ILD1420-200(8 μm)。线性误差 ,显著优于 LK-G400(±100 μm)和 ILD1420-200(...
  • 8
    2023 - 09 - 20
    首先,让我们对TOF进行一次短暂的“速读”——它全称叫'time-of-flight',中文怎么说呢?风格洒脱地称之为“飞行时间”。你没听错,就是“飞行时间”。所有的颠覆与创新始于赤裸裸的想象,对吧?再来回过头,看看我们的主角TOF激光测距传感器。激光这东西,我想你肯定不陌生。科幻大片,医美广告里都被频繁提及。对这位明星,我们暂时按下暂停键, 我们聊一聊测距传感器——那可是能把复杂的三维世界,硬是证明成一串串精准数据的硬核工具。当然,他俩的组合,并不是偶然撞壁造成的火花。在“鹰眼”TOF的身上,激光变得更加酷炫,传感器技术也变得更为深邃。他们共舞的主线,就是光的飞行时间。想象一下,要在现实世界计算出光从物体发射出来,然后反射回传感器的时间。你愣了一秒,觉得好像进入了'黑洞'的领域。实则不然,TOF激光测距传感器就是这样“耳提面命”。它以光速旅行者的姿态,穿越空间,告诉我们物体与之间的距离。亲,你有听说过光速吗?大约每秒走30万公里哦,这个速度足够你在一秒钟内去绕地球七点五圈了!TOF激光测距传感器就是他们利用这么一个迅疾的光速,再加上高精度的时钟,来高效精确地计算出飞行时间并转化为距离数据。小编想说,TOF不仅玩科技,他更玩智谋,战胜了同类的超声波、红外线等测距设备。毕竟,被物的颜色、亮度、表面材质,或者环境的温湿度对他来说都不构成锁链。准确到“下毛...
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泓川科技国产激光位移传感器HC16-15与进口Micro-Epsilon米铱ILD1420-10技术... 2025 - 04 - 02 以下为HC16-15国产激光位移传感器与进口ILD1420-10的对比分析报告,重点围绕技术参数、性能指标及国产替代可行性展开:一、核心参数对比指标HC16-15(泓川科技)ILD1420-10(Micro-Epsilon)测量范围±5mm(总10mm)10mm(SMR 20mm至EMR 30mm)线性度±0.1% F.S.±0.08% F.S.重复精度1μm0.5μm采样频率3000Hz(最高)4000Hz(最高)光源波长655nm(可见红光)670nm(可见红光)输出接口RS485(Modbus RTU)、0-10V/4-20mARS422、4-20mA/1-5V工作温度-10°C ~ +50°C0°C ~ +50°C防护等级IP67IP65尺寸(mm)44×31×18约47.5×14(主体)重量70g(含线缆)60g(含线缆)激光安全等级Class 2Class 2(ILD1420)/ Class 1(CL1版本)二、性能深度分析1. 精度与稳定性HC16-15:线性度±0.1% F.S.(优于多数国产传感器),1μm重复精度满足工业级需求,温度特性0.05% F.S/°C,适合宽温环境。ILD1420-10:线性度±0.08% F.S....
关于德国米铱(Micro-Epsilon)optoNCDT 1420 系列激光位移传感器的深度研究报... 2025 - 04 - 02 一、引言1.1 研究背景与意义在现代工业生产与精密测量领域,对高精度、高可靠性位移测量技术的需求与日俱增。激光位移传感器凭借其非接触测量、高精度、高响应速度以及抗干扰能力强等显著优势,已成为实现自动化生产、质量控制与精密检测的关键技术手段,广泛应用于汽车制造、电子生产、机械加工、航空航天等众多行业。optoNCDT 1420 系列激光位移传感器作为德国米铱(Micro-Epsilon)公司推出的微型化、高精度位移测量解决方案,在尺寸、性能与功能集成等方面展现出独特的优势。其紧凑的设计使其能够轻松集成到空间受限的设备与系统中,满足了现代工业对设备小型化、集成化的发展需求;同时,该系列传感器具备出色的测量精度与稳定性,可实现对微小位移变化的精确检测,为精密测量与控制提供了可靠的数据支持。深入研究 optoNCDT 1420 系列激光位移传感器的技术原理、性能特点及应用场景,对于推动激光位移测量技术的发展,拓展其在各行业的应用范围,提升工业生产的自动化水平与产品质量具有重要的理论与实际意义。通过对该系列传感器的全面剖析,能够为相关领域的工程师、技术人员提供有价值的参考依据,帮助他们更好地选择与应用激光位移传感器,解决实际工程中的测量难题。1.2 研究目标与范围本研究旨在全面深入地探究 optoNCDT 1420 系列激光位移传感器,具体目标包括:详细阐述该传感器的工作原理,深入分析其技术...
泓川科技 LTM3-030/LTM3-030W 国产激光位移传感器替代进口基恩士 IL-S025 的... 2025 - 03 - 27 1. 引言在工业自动化领域,激光位移传感器是实现高精度非接触测量的核心器件。基恩士 IL-S025 作为市场主流产品,以其 1μm 重复精度和稳定性能著称。然而,随着国产传感器技术的突破,泓川科技 LTM3-030/LTM3-030W 型号凭借更高的性能参数和经济性,为用户提供了新的选择。本文将从技术参数、性能表现、应用场景等方面,深入对比分析两者的替代可行性。 2. 核心技术参数对比参数基恩士 IL-S025泓川科技 LTM3-030/LTM3-030W对比结论重复精度1μm0.25μm(LTM3-030)/ 0.25μm(LTM3-030W)LTM3 系列更优(4 倍精度提升)线性误差±0.075% F.S.(±5mm 范围)LTM3-030W 更优(接近 IL-S025)测量范围±5mm(参考距离 25mm)±5mm(参考距离 30mm)等效采样频率3kHz(采样周期 0.33ms)10kHzLTM3 系列更优(3倍速度提升)光斑尺寸25×1200μm(线性光斑)Φ35μm(M3-030)/ Φ35×400μm(M3-030W)LTM3 系列光斑更小(点光斑更聚焦)光源类型660nm 激光(Class 2)655nm 激光(Class 2)等效接口配置需外接放大器单元(支持 EtherNet/IP 等)...
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